检测项目

1.银层厚度测量：使用X射线荧光光谱仪测定0.1-5μm范围内的镀银层厚度

2.表面氧化指数：通过分光光度计测量420-650nm波长反射率变化

3.基材成分分析：EDX能谱仪检测铜/玻璃基材元素组成（Cu≥95%）

4.粘接剂老化度：傅里叶红外光谱（FTIR）分析蛋白胶特征峰衰减率

5.微观结构观测：扫描电镜（SEM）2000倍率下观察银颗粒分布密度

检测范围

1.1839-1860年间生产的达盖尔原版银版照片

2.镀银铜板基材历史照片（尺寸2.53英寸至6.58.5英寸）

3.玻璃基底蛋白银盐影像制品

4.含硫化物修复痕迹的二次处理银版

5.博物馆馆藏级封装保护银版文物

检测方法

1.ASTME3025-16文化遗产材料元素分析标准

2.ISO18916:2007成像材料化学稳定性测试

3.GB/T23414-2009微束分析标准方法通则

4.GB/T16597-2019金属覆盖层厚度测量方法

5.ISO14577-1:2015仪器化压痕硬度测试

检测设备

1.ThermoScientificNitonXL3tX射线荧光光谱仪（元素分析）

2.KEYENCEVHX-7000数码显微镜（5000倍表面观测）

3.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪（晶体结构分析）

4.PerkinElmerLambda950紫外可见分光光度计（反射光谱测量）

5.HitachiSU8010场发射扫描电镜（纳米级形貌观测）

6.AgilentCary630FTIR红外光谱仪（有机物成分鉴定）

7.Elcometer456涂层测厚仪（非破坏性厚度测量）

8.BYK-mac多角度分光色差仪（表面光泽度测定）

9.MettlerToledoXP26微量天平（μg级质量变化监测）

10.HeraeusXenotestBeta光照老化箱（加速老化试验）