检测项目

1.元素成分分析：测定Fe、Al、Ti等34种金属元素（检出限0.01%-99.9%）

2.镀层厚度测量：覆盖层厚度0.1-50μm（精度0.05μm）

3.有害物质筛查：RoHS指令管控的Cd/Pb/Hg/Cr(VI)/PBB/PBDE（LOD≤10ppm）

4.合金牌号鉴别：不锈钢304/316L等1500+牌号库比对

5.矿石品位测定：Au/Ag/Cu等贵金属含量（0.1g/t-1000g/t）

检测范围

1.金属合金：铝合金轮毂、钛合金骨科植入物、高温镍基合金叶片

2.电子元器件：PCB电路板焊点、芯片封装材料、连接器镀层

3.地质矿产：铜矿石选矿品位、稀土元素赋存状态分析

4.环境样品：土壤重金属污染监测、工业废渣成分鉴定

5.文物考古：青铜器腐蚀产物分析、古陶瓷釉料成分溯源

检测方法

ASTME1441-19《X射线荧光光谱法测定金属合金标准试验方法》

ISO3497:2020《金属镀层厚度测量-X射线光谱法》

GB/T16597-2019《分析仪器检定方法通则》

GB/T21114-2019《X射线荧光光谱法测定耐火材料成分》

JISK0119:2021《X射线荧光分析法通则》

检测设备

1.ThermoScientificNitonXL5：手持式XRF（50kV/200μA），支持轻元素Mg-S检测

2.OlympusVantaM系列：硅漂移探测器（SDD分辨率<145eV），IP54防护等级

3.BrukerS1TITAN：50WX射线管（Rh靶），可测Beryllium窗口至U元素

4.ShimadzuEDX-7000：真空样品室（10Pa），配备3D移动样品台

5.HitachiEA1400：波长色散型XRF（LiF晶体分光），分析精度0.01%

6.SkyrayEDX3600B：全反射光学系统（8μm超薄窗），检出限达ppm级

7.ElvatechX-MET8000：GeoExploration模式（预装矿物品位曲线）

8.RigakuZSXPrimusIV：端窗铑靶管（4kW），配备10位自动进样器

9.PANalyticalEpsilon4：偏振激发几何光学（降低背景噪声）

10.OxfordInstrumentsX-MET7000：HEXTEK技术（自动基体校正）