


概述:检测项目1.光学表面平整度:波长λ/20精度(λ=632.8nm),PV值≤0.1μm2.薄膜厚度均匀性:测量范围50nm-50μm,分辨率1nm3.材料热膨胀系数:温度范围-50℃~300℃,精度0.1ppm/℃4.机械零件平面度:最大测量直径800mm,重复性0.05μm5.微结构三维形貌:横向分辨率0.5μm,纵向分辨率0.1nm检测范围1.光学玻璃:透镜、棱镜、窗口片等透射/反射元件2.金属材料:航空铝合金、钛合金精密加工件3.半导体晶圆:12英寸硅片表面缺陷与翘曲度4.高分子薄膜:PET/PC基
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.光学表面平整度:波长λ/20精度(λ=632.8nm),PV值≤0.1μm
2.薄膜厚度均匀性:测量范围50nm-50μm,分辨率1nm
3.材料热膨胀系数:温度范围-50℃~300℃,精度0.1ppm/℃
4.机械零件平面度:最大测量直径800mm,重复性0.05μm
5.微结构三维形貌:横向分辨率0.5μm,纵向分辨率0.1nm
1.光学玻璃:透镜、棱镜、窗口片等透射/反射元件
2.金属材料:航空铝合金、钛合金精密加工件
3.半导体晶圆:12英寸硅片表面缺陷与翘曲度
4.高分子薄膜:PET/PC基材功能性涂层厚度分布
5.陶瓷材料:氮化硅轴承球表面粗糙度Ra≤0.01μm
1.激光斐索干涉法:ASTME2244-22标准(表面粗糙度测量)
2.白光垂直扫描法:ISO25178-604:2013(三维表面结构)
3.剪切干涉技术:GB/T1800.3-2020(几何量公差评定)
4.相移干涉测量:ISO10110-8:2020(光学元件面形)
5.全息干涉计量:GB/T34879-2017(振动模态分析)
1.ZygoNewView9000:白光干涉仪,最大视场20mm20mm
2.TaylorHobsonTalysurfCCIHD:非接触式表面轮廓仪
3.BrukerContourGT-X3:三维光学轮廓仪,512512像素CCD
4.Keysight5529A:双频激光干涉系统,线性测量精度0.1ppm
5.MitutoyoMF-U1000H:超精密平面干涉仪,Φ300mm测量口径
6.VeecoNT9800:动态相移干涉仪,支持100Hz高速采样
7.OlympusLEXTOLS5000:激光共聚焦干涉显微镜
8.FisbaμPhase系列:光纤式微型干涉探头系统
9.NikonNEXIVVM-300S:视频测量干涉复合系统
10.PolytecMSA-600:微系统分析激光振动干涉仪
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"干涉法检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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精准检测各类化工产品的成分、纯度及物理化学性质,确保产品质量符合国家标准。服务涵盖有机溶剂分析、催化剂表征、高分子材料分子量测定等。
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