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正电压射极耦合逻辑检测

  • 原创官网
  • 2025-05-14 22:15:40
  • 关键字:正电压射极耦合逻辑测试仪器,正电压射极耦合逻辑测试范围,正电压射极耦合逻辑测试机构
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正电压射极耦合逻辑检测概述:检测项目1.输入高电平电压(VIH):典型范围3.3V0.3V@25℃,需测试10%电源波动下的阈值稳定性2.输出低电平电流(IOL):最低驱动能力-24mA@VCC=3.3V时VOL≤0.4V3.差分信号摆幅(ΔV):400mV~1.4V峰峰值(PP)范围内线性度偏差≤5%4.共模抑制比(CMRR):≥60dB@100MHz频率点5.传输延迟时间(tpd):单级门延迟≤150ps@CL=5pF负载条件检测范围1.高速CMOS集成电路:如74LCX系列低电压逻辑器件2.射频前端模块:包含PECL时钟分配网


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检测项目

1.输入高电平电压(VIH):典型范围3.3V0.3V@25℃,需测试10%电源波动下的阈值稳定性

2.输出低电平电流(IOL):最低驱动能力-24mA@VCC=3.3V时VOL≤0.4V

3.差分信号摆幅(ΔV):400mV~1.4V峰峰值(PP)范围内线性度偏差≤5%

4.共模抑制比(CMRR):≥60dB@100MHz频率点

5.传输延迟时间(tpd):单级门延迟≤150ps@CL=5pF负载条件

检测范围

1.高速CMOS集成电路:如74LCX系列低电压逻辑器件

2.射频前端模块:包含PECL时钟分配网络的微波组件

3.光通信收发器:SFP+模块中10GbpsPECL接口电路

4.存储控制器:DDR4内存接口的PECL缓冲器单元

5.汽车电子系统:符合AEC-Q100标准的车载ECU时钟电路

检测方法

ASTMF1241-2018《数字集成电路交流参数测试规程》第7章差分信号测量法

ISO/IEC14763-3:2014《信息技术设备互连》第4.2.3节电平容限测试

GB/T17573-2021《半导体器件分立器件和集成电路》第Ⅶ部分第5条动态特性测试

GB/T15543-2008《电能质量三相电压不平衡》附录B噪声干扰测试法

JEDECJESD8-7A《高速逻辑接口电气特性标准》第3章PECL接口规范

检测设备

KeysightB1500A半导体参数分析仪:执行DC参数扫描与IV特性曲线测试

TektronixDPO73304SX示波器:70GHz带宽实现亚纳秒级信号完整性分析

Rohde&SchwarzZNB40矢量网络分析仪:测量S参数及阻抗匹配特性(频率范围40GHz)

AdvantestT6391A高速数字测试仪:支持12.8Gbps速率下的眼图与抖动测试

Chroma3380P电源加载系统:模拟10%电压波动下的工作稳定性

ThermonicsT-2500C温控平台:-55℃~+150℃环境适应性测试

AnritsuMP1900A误码率测试仪:验证PECL接口在BER≤1E-12时的可靠性

EMTestNSG438静电放电发生器:执行IEC61000-4-2标准8kV接触放电测试

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报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与正电压射极耦合逻辑检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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