比值计检测

检测项目1.密度比测定:采用阿基米德法测量固体材料密度比(单位:g/cm),精度0.0012.元素含量比值分析:XRF法测定金属合金中Fe/Cr/Ni元素质量比(范围:0.1%-99.9%)3.热膨胀系数比:-50℃至300℃范围内测定复合材料轴向/径向膨胀系数比(分辨率0.1μm/m℃)4.电阻率比值测试:四探针法测量半导体材料各向异性电阻率比(量程10^-4~10^6Ωcm)5.光学折射率比:波长589nm下测定多层镀膜材料折射率比值(精度0.0002)检测范围1.金属合金材料:包括铝合金、钛合金、高

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检测项目

1.密度比测定:采用阿基米德法测量固体材料密度比(单位:g/cm),精度0.001

2.元素含量比值分析:XRF法测定金属合金中Fe/Cr/Ni元素质量比(范围:0.1%-99.9%)

3.热膨胀系数比:-50℃至300℃范围内测定复合材料轴向/径向膨胀系数比(分辨率0.1μm/m℃)

4.电阻率比值测试:四探针法测量半导体材料各向异性电阻率比(量程10^-4~10^6Ωcm)

5.光学折射率比:波长589nm下测定多层镀膜材料折射率比值(精度0.0002)

检测范围

1.金属合金材料:包括铝合金、钛合金、高温合金等铸件/锻件

2.高分子复合材料:碳纤维增强塑料(CFRP)、玻璃钢(FRP)层压制品

3.建筑材料:混凝土骨料/胶凝材料配比、防水卷材组分比

4.电子元器件:PCB基板介电常数比、半导体晶圆掺杂浓度比

5.化工产品:催化剂载体/活性组分质量比、润滑油添加剂配比

检测方法

ASTMD792-20塑料密度和相对密度标准试验方法

ISO3497:2020金属镀层厚度X射线光谱测量法

GB/T4339-2008金属材料热膨胀系数测定方法

GB/T1551-2021半导体单晶电阻率测试方法

ISO14707:2015辉光放电光谱法表面成分分析

检测设备

梅特勒TOLEDOMS105DU电子天平:最大称量82g,精度0.01mg,用于密度比测量

赛默飞ARLPERFORM'XX射线荧光光谱仪:元素分析范围Be-U,检出限0.001%

NETZSCHDIL402C热膨胀仪:温度范围-160℃~2000℃,位移分辨率0.125nm

KeysightB2902A精密源表:电

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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