杂质元素检测概述:检测项目1.金属材料中铅(Pb)、砷(As)含量测定:检测限0.1-50ppm2.电子元器件钠(Na)、钾(K)离子污染分析:精度0.05μg/cm3.药品原料重金属残留(Cd、Hg、Pb):符合ICHQ3D限值要求4.食品接触材料镉(Cd)、铬(Cr)迁移量测试:模拟液萃取法(3%乙酸)5.高纯气体氧(O₂)、氮(N₂)杂质浓度:分辨率0.01ppmv检测范围1.金属及合金:不锈钢、铝合金、钛合金等铁基/非铁基材料2.电子元件:半导体晶圆、PCB板、键合线等微电子组件3.化工产品:催化剂、聚合物母粒、高
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.金属材料中铅(Pb)、砷(As)含量测定:检测限0.1-50ppm
2.电子元器件钠(Na)、钾(K)离子污染分析:精度0.05μg/cm
3.药品原料重金属残留(Cd、Hg、Pb):符合ICHQ3D限值要求
4.食品接触材料镉(Cd)、铬(Cr)迁移量测试:模拟液萃取法(3%乙酸)
5.高纯气体氧(O₂)、氮(N₂)杂质浓度:分辨率0.01ppmv
1.金属及合金:不锈钢、铝合金、钛合金等铁基/非铁基材料
2.电子元件:半导体晶圆、PCB板、键合线等微电子组件
3.化工产品:催化剂、聚合物母粒、高纯试剂等
4.医药制品:原料药、辅料、注射剂及医疗器械
5.环境样品:土壤沉积物、工业废水、大气颗粒物
1.ICP-MS法(ASTMD1976):痕量元素定量分析(0.01-100ppb)
2.原子吸收光谱法(GB/T5009.12):重金属快速筛查
3.GD-MS辉光放电质谱(ISO22036):块状材料体相分析
4.X射线荧光光谱(GB/T16597):非破坏性表面筛查
5.离子色谱法(ASTMD4327):阴离子/阳离子同步测定
1.ThermoFisheriCAPRQICP-MS:多元素同步分析(检出限0.1ppt)
2.Agilent7900ICP-MS:MS/MS模式消除质谱干扰
3.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪:石墨炉/火焰双模式
4.BrukerS8TIGERXRF光谱仪:大面积样品台(Φ50mm)
5.Metrohm930CompactICFlex离子色谱:双通道电导检测
6.LECOGDS850A辉光放电质谱仪:深度分辨率1nm
7.HORIBAEMIA-920V碳硫分析仪:红外吸收法测C/S含量
8.ShimadzuEDX-7000能量色散X荧光仪:轻元素检测(B-U)
9.ElvatechECS3000激光诱导击穿光谱:原位微区分析(50μm)
10.MettlerToledoDL39库仑水分仪:卡尔费休法测H₂O含量
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与杂质元素检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。