检测项目

1.金属材料中铅（Pb）、砷（As）含量测定：检测限0.1-50ppm
2.电子元器件钠（Na）、钾（K）离子污染分析：精度0.05μg/cm
3.药品原料重金属残留（Cd、Hg、Pb）：符合ICHQ3D限值要求
4.食品接触材料镉（Cd）、铬（Cr）迁移量测试：模拟液萃取法（3%乙酸）
5.高纯气体氧（O₂）、氮（N₂）杂质浓度：分辨率0.01ppmv

检测范围

1.金属及合金：不锈钢、铝合金、钛合金等铁基/非铁基材料
2.电子元件：半导体晶圆、PCB板、键合线等微电子组件
3.化工产品：催化剂、聚合物母粒、高纯试剂等
4.医药制品：原料药、辅料、注射剂及医疗器械
5.环境样品：土壤沉积物、工业废水、大气颗粒物

检测方法

1.ICP-MS法（ASTMD1976）：痕量元素定量分析（0.01-100ppb）
2.原子吸收光谱法（GB/T5009.12）：重金属快速筛查
3.GD-MS辉光放电质谱（ISO22036）：块状材料体相分析
4.X射线荧光光谱（GB/T16597）：非破坏性表面筛查
5.离子色谱法（ASTMD4327）：阴离子/阳离子同步测定

检测设备

1.ThermoFisheriCAPRQICP-MS：多元素同步分析（检出限0.1ppt）
2.Agilent7900ICP-MS：MS/MS模式消除质谱干扰
3.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪：石墨炉/火焰双模式
4.BrukerS8TIGERXRF光谱仪：大面积样品台（Φ50mm）
5.Metrohm930CompactICFlex离子色谱：双通道电导检测
6.LECOGDS850A辉光放电质谱仪：深度分辨率1nm
7.HORIBAEMIA-920V碳硫分析仪：红外吸收法测C/S含量
8.ShimadzuEDX-7000能量色散X荧光仪：轻元素检测（B-U）
9.ElvatechECS3000激光诱导击穿光谱：原位微区分析（50μm）
10.MettlerToledoDL39库仑水分仪：卡尔费休法测H₂O含量