


概述:检测项目1.X射线衍射分析(XRD):2θ角度范围5-90,步长0.02,Cu-Kα辐射(λ=1.5406)2.电子探针成分分析(EPMA):加速电压15kV,束流20nA,元素检测限0.01wt%3.透射电子显微成像(TEM):分辨率0.2nm,选区衍射模式(SAED)4.差示扫描量热分析(DSC):温度范围25-1200℃,升温速率10℃/min5.显微硬度测试:维氏硬度计载荷500gf,保载时间15s检测范围1.金属基准晶合金:Al-Cu-Fe系、Al-Ni-Co系等三元合金体系2.陶瓷复合材料:Z
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.X射线衍射分析(XRD):2θ角度范围5-90,步长0.02,Cu-Kα辐射(λ=1.5406)
2.电子探针成分分析(EPMA):加速电压15kV,束流20nA,元素检测限0.01wt%
3.透射电子显微成像(TEM):分辨率0.2nm,选区衍射模式(SAED)
4.差示扫描量热分析(DSC):温度范围25-1200℃,升温速率10℃/min
5.显微硬度测试:维氏硬度计载荷500gf,保载时间15s
1.金属基准晶合金:Al-Cu-Fe系、Al-Ni-Co系等三元合金体系
2.陶瓷复合材料:ZrO2基准晶增强相复合材料
3.功能涂层材料:热障涂层中的准晶相含量检测
4.半导体材料:Ge-Sb-Te系相变存储材料
5.地质矿物:天然准晶矿物如icosahedrite(Al63Cu24Fe13)
1.ASTME975-20金属材料X射线衍射定量分析方法
2.ISO20283:2017电子探针显微分析通则
3.GB/T23414-2009微束分析术语和定义
4.GB/T4339-2008金属材料热膨胀特性测定方法
5.ISO14577-1:2015仪器化压痕试验方法
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:配备HyPix-3000二维探测器
2.JEOLJXA-8530F场发射电子探针:5通道波谱仪系统
3.FEITalosF200X透射电镜:SuperX能谱系统
4.NetzschSTA449F3同步热分析仪:DSC-TG联用模块
5.Zwick/RoellZHVμ显微硬度计:自动压痕测量系统
6.BrukerD8DiscoverXRD系统:三维织构分析模块
7.ShimadzuEPMA-8050G电子探针:全聚焦型分光晶体配置
8.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD平台:实时原位高温附件
9.HitachiRegulus8230场发射扫描电镜:二次电子/背散射双探头系统
10.Agilent7900ICP-MS:亚ppb级痕量元素分析能力
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"准晶质检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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