检测项目

1.粒径分布：D10/D50/D90值测量（0.1nm-100μm），跨度系数≤1.5

2.比表面积：BET法测定（0.01-2000m/g），孔径分布0.35-500nm

3.孔隙率：压汞法测试（3nm-360μm），开孔率精度0.5%

4.元素含量：EDS/WDS定量分析（Be4-U92），检出限0.01wt%

5.形貌分析：SEM/TEM分辨率0.4nm/0.2nm，景深≥5mm

检测范围

1.纳米材料：碳纳米管（直径1-100nm）、量子点（2-10nm）

2.金属粉末：钛合金粉（D50≤45μm）、3D打印用316L不锈钢粉（15-53μm）

3.陶瓷材料：氧化锆粉体（Y₂O₃含量3mol%）、氮化硅粉（α相≥92%）

4.高分子微球：聚苯乙烯微球（CV≤3%）、PLGA载药微粒（1-50μm）

5.医药粉体：吸入制剂乳糖载体（＜10μm细粉占比≤15%）

检测方法

ASTMB822-20金属粉末粒度激光衍射法

ISO13322-1:2021动态图像颗粒分析标准

GB/T19077-2016粒度分布激光衍射法通则

ISO9277:2022BET比表面测定规范

GB/T21650.3-2011压汞法孔隙度测定

ASTME1508-12扫描电镜能谱标定规程

检测设备

马尔文帕尼科Mastersizer3000：激光衍射粒度仪（0.01-3500μm）

麦克ASAP2460：全自动比表面及孔隙分析仪（4-3600）

赛默飞Apreo2S：场发射扫描电镜（1nm@15kV）

布鲁克D8ADVANCE：X射线衍射仪（角度精度0.0001）

珀金埃尔默STA8000：同步热分析仪（0.1μg灵敏度）

岛津EDX-7000：能量色散光谱仪（Be-U元素分析）

安捷伦8900ICP-MS：痕量元素分析仪（ppt级检出限）

CILASNanoDS：纳米粒度Zeta电位仪（0.3nm-10μm）

QuantachromeAutoporeV：压汞仪（3nm-360μm孔径）

JEOLJEM-ARM300F：原子分辨率透射电镜（球差校正）