检测项目
1.粒径分布：D10/D50/D90值测量（0.1nm-100μm），跨度系数≤1.5
2.比表面积：BET法测定（0.01-2000m/g），孔径分布0.35-500nm
3.孔隙率：压汞法测试（3nm-360μm），开孔率精度0.5%
4.元素含量：EDS/WDS定量分析（Be4-U92），检出限0.01wt%
5.形貌分析：SEM/TEM分辨率0.4nm/0.2nm，景深≥5mm
检测范围
1.纳米材料：碳纳米管（直径1-100nm）、量子点（2-10nm）
2.金属粉末：钛合金粉（D50≤45μm）、3D打印用316L不锈钢粉（15-53μm）
3.陶瓷材料：氧化锆粉体（Y₂O₃含量3mol%）、氮化硅粉（α相≥92%）
4.高分子微球：聚苯乙烯微球（CV≤3%）、PLGA载药微粒（1-50μm）
5.医药粉体：吸入制剂乳糖载体（＜10μm细粉占比≤15%）
检测方法
ASTMB822-20金属粉末粒度激光衍射法
ISO13322-1:2021动态图像颗粒分析标准
GB/T19077-2016粒度分布激光衍射法通则
ISO9277:2022BET比表面测定规范
GB/T21650.3-2011压汞法孔隙度测定
ASTME1508-12扫描电镜能谱标定规程
检测设备
马尔文帕尼科Mastersizer3000：激光衍射粒度仪（0.01-3500μm）
麦克ASAP2460：全自动比表面及孔隙分析仪（4-3600）
赛默飞Apreo2S：场发射扫描电镜（1nm@15kV）
布鲁克D8ADVANCE：X射线衍射仪（角度精度0.0001）
珀金埃尔默STA8000：同步热分析仪（0.1μg灵敏度）
岛津EDX-7000：能量色散光谱仪（Be-U元素分析）
安捷伦8900ICP-MS：痕量元素分析仪（ppt级检出限）
CILASNanoDS：纳米粒度Zeta电位仪（0.3nm-10μm）
QuantachromeAutoporeV：压汞仪（3nm-360μm孔径）
JEOLJEM-ARM300F：原子分辨率透射电镜（球差校正）