检测项目

反射系数（S11/S22）：测量范围-50dB至+10dB，频率精度±0.5ppm

传输损耗（S21/S12）：动态范围120dB@10GHz，相位误差≤1°

群时延特性：分辨率0.1ps，线性度±3ps

相位稳定性：温度漂移±0.02°/℃（-40℃~+85℃）

阻抗匹配度：VSWR≤1.5:1（50Ω系统）

检测范围

高频电路板材料：RO4350B、PTFE基材等

微波无源器件：功分器、耦合器、环形器

天线系统：阵列天线、抛物面馈源

射频连接器：SMA、N型、7/16 DIN

滤波器组件：带通/带阻滤波器、双工器

检测方法

ASTM D5568-22：高频电路基板介电特性测试

ISO/IEC 17025:2017：射频参数测量不确定度评定

GB/T 11313.1-2018：射频连接器S参数测试规范

GB/T 17626.3-2023：电磁兼容射频场感应的传导骚扰抗扰度

IEC 61169-1-6:2021：射频连接器群时延测试方法

检测设备

Keysight PNA-X N5245B：频率范围10MHz-50GHz，支持多端口误差修正

Rohde & Schwarz ZVA67：最大输出功率+13dBm，时域分析功能

Anritsu VectorStar MS4647B：70kHz-70GHz宽带测试，内置脉冲调制器

Ceyear 3674E：国产化方案，支持TRL校准（26.5GHz）

Maury Microwave自动夹具移除法（AFR）：用于非连接器化DUT测试