检测项目

1.纯度分析：Al₂O₃含量≥99.5%（差示扫描量热法）
2.晶型结构：α相/γ相比例测定（XRD半定量分析）
3.粒度分布：D10≤1.2μm，D50≤3.5μm，D90≤8.0μm（激光散射法）
4.比表面积：2-15m/g（BET氮吸附法）
5.杂质元素：Fe₂O₃≤0.02%、SiO₂≤0.03%、Na₂O≤0.40%（ICP-OES法）

检测范围

1.冶金级氧化铝（电解铝原料）
2.电子陶瓷用高纯氧化铝粉体（基板/封装材料）
3.催化剂载体γ-Al₂O₃（石油化工行业）
4.耐火材料用烧结氧化铝（窑炉内衬）
5.医药级纳米氧化铝（生物陶瓷原料）

检测方法

1.X射线衍射法：ASTME394-22/GB/T6609.3-2022（晶型鉴定）
2.电感耦合等离子体发射光谱法：ISO16171:2016/GB/T6609.8-2021（痕量元素）
3.激光粒度分析法：ISO13320:2020/GB/T19077-2016（粒径分布）
4.静态容量法比表面测定：ISO9277:2010/GB/T19587-2017（BET比表面）
5.灼烧减量测定法：GB/T6609.2-2022（550℃25℃恒重测试）

检测设备

1.X射线衍射仪：RigakuSmartLab9kW（晶型定量分析）
2.激光粒度分析仪：MalvernMastersizer3000（干湿法分散系统）
3.比表面孔隙度分析仪：MicromeriticsASAP2460（微孔介孔同步测试）
4.ICP-OES光谱仪：PerkinElmerAvio550（轴向观测等离子体技术）
5.TGA-DSC同步热分析仪：NETZSCHSTA449F5（纯度热效应分析）
6.高温灼烧炉：NaberthermLHT04/17（程序控温至1700℃）
7.pH值测定系统：MettlerToledoSevenExcellence（悬浮液pH值测试）
8.真密度分析仪：QuantachromeUltrapyc5000（氦气置换法）
9.SEM-EDS联用系统：HitachiSU5000+OxfordXplore（微观形貌与元素分布）
10.X荧光光谱仪：ShimadzuEDX-7000（无标样快速筛查）