检测项目

1.尺寸偏差：线性尺寸公差0.05mm~0.5mm（视精度等级）

2.平面度误差：允许偏差0.02mm/m~0.1mm/m

3.圆度/圆柱度：最大允差0.005D~0.02D（D为特征直径）

4.表面粗糙度：Ra0.4μm~6.3μm（根据加工工艺确定）

5.角度公差：0.1~1（含垂直度/平行度）

检测范围

1.金属机加工件（铝合金/不锈钢/钛合金）

2.注塑成型塑料制品（ABS/PC/POM）

3.精密陶瓷元件（氧化铝/氮化硅）

4.复合材料结构件（碳纤维/玻璃纤维层压板）

5.电子接插件（PCB板/连接器端子）

检测方法

ASTME177-20尺寸测量系统分析标准指南

ISO1101:2017产品几何技术规范(GPS)几何公差

GB/T1958-2017产品几何量技术规范(GPS)形状和位置公差检测规定

ASMEB89.3.1-2012测量仪器精度评定标准

GB/T1031-2009表面粗糙度参数及其数值

检测设备

MitutoyoCRYSTA-ApexS系列三坐标测量机：空间测量精度(1.9+3L/1000)μm

TaylorHobsonFormTalysurfi系列轮廓仪：垂直分辨率0.8nm

HexagonAbsoluteArm7轴便携测量臂：单点重复性0.018mm

KeyenceIM-8000图像尺寸测量仪：光学放大倍率20X~200X

ZeissO-INSPECT复合式测量机：多传感器融合测量系统

OlympusDSX1000数码显微镜：景深合成分辨率0.01μm

RenishawXL-80激光干涉仪：线性测量精度0.5ppm

FaroEdgeScanArmHD：蓝光扫描速率1,000,000点/秒

BrukerContourGT-K光学轮廓仪：垂直扫描范围10mm@0.1nm分辨率

SIP405M三坐标测量机：最大允许误差MPEE=1.5+L/350μm