检测项目
1.尺寸偏差：线性尺寸公差0.05mm~0.5mm（视精度等级）
2.平面度误差：允许偏差0.02mm/m~0.1mm/m
3.圆度/圆柱度：最大允差0.005D~0.02D（D为特征直径）
4.表面粗糙度：Ra0.4μm~6.3μm（根据加工工艺确定）
5.角度公差：0.1~1（含垂直度/平行度）
检测范围
1.金属机加工件（铝合金/不锈钢/钛合金）
2.注塑成型塑料制品（ABS/PC/POM）
3.精密陶瓷元件（氧化铝/氮化硅）
4.复合材料结构件（碳纤维/玻璃纤维层压板）
5.电子接插件（PCB板/连接器端子）
检测方法
ASTME177-20尺寸测量系统分析标准指南
ISO1101:2017产品几何技术规范(GPS)几何公差
GB/T1958-2017产品几何量技术规范(GPS)形状和位置公差检测规定
ASMEB89.3.1-2012测量仪器精度评定标准
GB/T1031-2009表面粗糙度参数及其数值
检测设备
MitutoyoCRYSTA-ApexS系列三坐标测量机：空间测量精度(1.9+3L/1000)μm
TaylorHobsonFormTalysurfi系列轮廓仪：垂直分辨率0.8nm
HexagonAbsoluteArm7轴便携测量臂：单点重复性0.018mm
KeyenceIM-8000图像尺寸测量仪：光学放大倍率20X~200X
ZeissO-INSPECT复合式测量机：多传感器融合测量系统
OlympusDSX1000数码显微镜：景深合成分辨率0.01μm
RenishawXL-80激光干涉仪：线性测量精度0.5ppm
FaroEdgeScanArmHD：蓝光扫描速率1,000,000点/秒
BrukerContourGT-K光学轮廓仪：垂直扫描范围10mm@0.1nm分辨率
SIP405M三坐标测量机：最大允许误差MPEE=1.5+L/350μm