检测项目

1.氟化钠（Na3AlF6）主含量测定：纯度≥98.5%，杂质总量≤1.5%

2.氧化铝（Al2O3）含量：控制范围≤0.30%（质量分数）

3.二氧化硅（SiO2）含量：限定值≤0.25%（XRF法测定）

4.铁氧化物（Fe2O3）含量：工业级要求≤0.05%（分光光度法）

5.灼烧减量（LOI）：1050℃灼烧后质量损失≤0.8%

6.粒度分布：D50值控制在45-75μm（激光衍射法）

7.密度测试：真密度2.95-3.05g/cm（氦气比重法）

检测范围

1.冶金级冰晶石（电解铝用）

2.陶瓷釉料用改性冰晶石

3.玻璃制造助熔剂原料

4.磨料行业用高纯冰晶石

5.焊接材料专用合成冰晶石

6.氟化工中间体原料

检测方法

ASTME1915-11《X射线荧光光谱法测定矿物中元素》

ISO5938:2018《冰晶石化学分析方法-氟的测定》

GB/T6609.30-2022《氧化铝化学分析方法第30部分：X射线荧光法测定元素含量》

GB/T8156.8-2017《工业用氟化铝化学分析方法第8部分：湿存水含量的测定》

ISO12677:2011《耐火材料X射线荧光化学分析-熔铸玻璃片法》

ASTMC146-94a(2021)《氟石化学分析标准试验方法》

检测设备

ThermoScientificARLADVANT'X3600X射线荧光光谱仪：元素定量分析（Na,Al,F,Si,Fe）

PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪：痕量重金属元素检测（Pb,Cd,Cr）

MalvernMastersizer3000激光粒度分析仪：粒度分布及D10/D50/D90测定

NetzschSTA449F3同步热分析仪：灼烧减量及热稳定性测试

MicromeriticsAccuPycII1340氦气比重计：真密度精确测量（精度0.03%）

MettlerToledoTGA/DSC3+热重分析仪：水分及挥发分测定（精度0.1μg）

BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：物相组成及结晶度分析（Cu靶Kα辐射）

SartoriusCPA225D电子天平：高精度称量（0.01mg分辨率）

Agilent5110ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱仪：多元素同步快速检测（ppm级精度）