微矿物杂质残留检测概述:检测项目1.重金属元素含量测定:铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)、铬(Cr)等痕量元素定量分析(检出限≤0.1ppm)2.非金属杂质筛查:砷(As)、硫(S)、磷(P)等非金属成分定量(精度0.01wt%)3.放射性元素检测:铀(U)、钍(Th)、镭(Ra)等核素活度测定(灵敏度≥0.05Bq/g)4.稀土元素残留分析:镧(La)、铈(Ce)、钕(Nd)等17种稀土元素总量控制(误差范围5%)5.粒径分布与形态表征:杂质颗粒尺寸分布(0.1-100μm)及晶体结构鉴定(XRD半峰宽≤0.02)检测范围1
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1.重金属元素含量测定:铅(Pb)、镉(Cd)、汞(Hg)、铬(Cr)等痕量元素定量分析(检出限≤0.1ppm)
2.非金属杂质筛查:砷(As)、硫(S)、磷(P)等非金属成分定量(精度0.01wt%)
3.放射性元素检测:铀(U)、钍(Th)、镭(Ra)等核素活度测定(灵敏度≥0.05Bq/g)
4.稀土元素残留分析:镧(La)、铈(Ce)、钕(Nd)等17种稀土元素总量控制(误差范围5%)
5.粒径分布与形态表征:杂质颗粒尺寸分布(0.1-100μm)及晶体结构鉴定(XRD半峰宽≤0.02)
1.金属合金材料:钛合金、高温合金中的夹杂物与微量元素
2.半导体材料:硅晶圆、GaAs衬底的金属污染控制
3.医药原料药:注射级辅料中的重金属限量检测
4.食品添加剂:碳酸钙、二氧化硅的放射性核素筛查
5.环境样本:工业废渣中的持久性污染物迁移分析
ASTME1728-16《食品接触材料重金属测定规程》微波消解-ICP-OES联用技术
ISO17294-2:2016《水质-电感耦合等离子体质谱法》多元素同步测定
GB/T33042-2016《电子级高纯试剂杂质含量测定》辉光放电质谱法
GB5009.268-2016《食品中多元素测定》微波消解-ICP-MS法
ASTMC1239-13《陶瓷材料放射性核素测试》高纯锗γ能谱法
ThermoScientificiCAPRQICP-MS:痕量元素定量分析(质量数范围3-270amu)
PerkinElmerNexION350D:动态反应池技术消除质谱干扰(检出限达ppt级)
Agilent7900ICP-MS:三重四极杆设计实现超痕量多元素同时测定
BrukerS8TIGERXRF光谱仪:无损快速筛查重金属含量(精度0.5ppm)
RigakuZSXPrimusIVXRF:波长色散型仪器用于固体样品表面分析
ShimadzuEDX-7000:能量色散X射线荧光光谱仪现场快速检测
MalvernMastersizer3000:激光粒度仪测量0.01-3500μm颗粒分布
PANalyticalEmpyreanXRD:晶体结构分析(角度重复性0.0001)
OrtecHPGeγ谱仪:高分辨率放射性核素检测(相对效率≥40%)
MilestoneUltraWAVE微波消解仪:高温高压样品前处理系统(最高温度300℃)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与微矿物杂质残留检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。