检测项目

1.波长范围测定：200-2500nm全波段覆盖精度0.2nm
2.分辨率带宽验证：0.05nm@532nm标准激光源
3.信噪比测试：≥60dB@全动态范围
4.杂散光分析：＜0.01%@632.8nm截止波长
5.线性度校准：1%在10^4动态范围内

检测范围

1.半导体材料：GaN基LED外延片、SiC衬底片
2.光学镀膜：AR增透膜、IR截止滤光片
3.荧光材料：YAG荧光粉、量子点薄膜
4.激光器件：VCSEL芯片、光纤激光模块
5.光伏组件：PERC电池片、钙钛矿薄膜

检测方法

1.ASTME275-08(2017)紫外可见光谱描述规程
2.ISO13695:2004光学激光光谱特性测试
3.GB/T32213-2015光谱辐射亮度测量方法
4.ISO21254-1:2011激光损伤阈值测定
5.GB/T26179-2010光源显色性评价方法

检测设备

1.AgilentCary7000全能型分光光度计：250-2500nm波长范围
2.HoribaiHR550成像光谱仪：0.05nm光学分辨率
3.OceanInsightQEPro高灵敏度光谱仪：200-1100nm响应
4.PerkinElmerLambda1050+双单色器系统：杂散光＜0.00007%
5.BrukerVERTEX80v真空型FTIR光谱仪：1cm^-1分辨率
6.AndorShamrockSR-500i光谱分析平台：多通道同步采集
7.AvantesAvaSpec-ULS2048CL-EVO紫外增强光谱仪：200-1160nm
8.YokogawaAQ6376长波长分析仪：1500-3400nm红外波段
9.StellarNetBLACK-Comet-CXR超低噪声光谱仪：SNR＞2000:1
10.LabsphereCDS2100校准光源系统：NIST可溯源自发光源