检测项目

1.自旋极化率测定：测量范围100%，分辨率0.01%

2.磁矩各向异性分析：精度0.05μB/atom

3.电导率张量测试：频率范围DC-40GHz

4.能带结构重构：能量分辨率≤5meV

5.热稳定性验证：温度范围-269℃~300℃

检测范围

1.量子计算芯片的拓扑绝缘体层

2.半导体异质结薄膜材料

3.铁磁/反铁磁复合合金

4.二维过渡金属硫化物器件

5.超导量子干涉装置电极材料

检测方法

ASTME3060-22《量子材料自旋输运特性测试规程》

ISO18503:2018《纳米结构磁矩测量-X射线磁圆二色法》

GB/T31482-2015《半导体材料能带结构测试方法》

GB11291-2018《极端条件下电输运特性试验规范》

IEC62660-4:2021《量子器件热稳定性评估程序》

检测设备

QuantumDesignPPMSDynaCool：综合物性测量系统（磁场强度9T）

JEOLJSM-7900F：场发射扫描电子显微镜（分辨率0.6nm）

ThermoFisherESCALABXi+：X射线光电子能谱仪（单色AlKα源）

LakeShore8404：霍尔效应测试系统（电流分辨率10fA）

BrukerD8Discover：高分辨X射线衍射仪（角度精度0.0001）

OxfordInstrumentsTritonXL：稀释制冷测量平台（最低温度10mK）

KeysightB1500A：半导体参数分析仪（电压范围1000V）

RHKTechnologyUHVVT-STM：超高真空扫描隧道显微镜（原子级分辨率）