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概述:检测项目1.纯度测定:采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)测定Hg、Ba、I元素含量比例(Hg:Ba:I=1:1:2),纯度阈值≥99.5%2.晶体结构分析:通过X射线衍射(XRD)验证晶胞参数(a=4.32,c=7.18),半峰宽≤0.153.热稳定性测试:热重分析仪(TGA)测定分解温度范围(起始分解点≥280℃),质量损失率<0.5%/min4.杂质元素限量:原子吸收光谱法(AAS)检测重金属杂质(Pb≤50ppm,Cd≤20ppm,As≤10ppm)5.表面形貌表征:扫描电子显微镜(S
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
因篇幅原因,CMA/CNAS证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.纯度测定:采用电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)测定Hg、Ba、I元素含量比例(Hg:Ba:I=1:1:2),纯度阈值≥99.5%
2.晶体结构分析:通过X射线衍射(XRD)验证晶胞参数(a=4.32,c=7.18),半峰宽≤0.15
3.热稳定性测试:热重分析仪(TGA)测定分解温度范围(起始分解点≥280℃),质量损失率<0.5%/min
4.杂质元素限量:原子吸收光谱法(AAS)检测重金属杂质(Pb≤50ppm,Cd≤20ppm,As≤10ppm)
5.表面形貌表征:扫描电子显微镜(SEM)观测颗粒尺寸分布(D50=2-5μm),孔隙率<3%
1.光电转换器件用HgBaI₂单晶材料
2.核反应堆γ射线屏蔽涂层复合材料
3.高温超导薄膜前驱体粉末
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5.特种光学玻璃掺杂改性剂
ASTME158-2016《标准化学分析方法测定汞基化合物组成》
ISO17025:2017《检测实验室能力通用要求》
GB/T223.5-2008《钢铁及合金化学分析方法还原型硅钼酸盐光度法测定酸溶硅含量》扩展应用
ISO14706:2014《表面化学分析-全反射X射线荧光光谱法测定硅片表面金属杂质》
GB/T4336-2016《碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析法》改良方案
ThermoScientificARLEQUINOX1000X射线衍射仪:配备HyPix-3000探测器,角度分辨率0.0001
PerkinElmerOptima8300电感耦合等离子体发射光谱仪:检出限达0.01ppb
NETZSCHSTA449F5Jupiter同步热分析仪:温度范围RT-1600℃,控温精度0.1℃
HitachiSU8200冷场发射扫描电镜:分辨率0.8nm@15kV,配备EDAXOctaneElite能谱仪
Agilent240Z石墨炉原子吸收光谱仪:配备Zeeman背景校正系统
MalvernMastersizer3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm
BrukerD8ADVANCEX射线荧光光谱仪:Rh靶陶瓷X光管,功率4kW
MettlerToledoXPR6U超微量天平:最小称量值0.1μg,重复性0.025μg
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"碘化汞钡检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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精准检测各类化工产品的成分、纯度及物理化学性质,确保产品质量符合国家标准。服务涵盖有机溶剂分析、催化剂表征、高分子材料分子量测定等。
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