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概述:检测项目1.离子动能分布范围:0-1000eV连续可调,步进精度0.1eV2.动能分辨率:≤0.5eV(FWHM@Ar+500eV)3.信噪比指标:≥10000:1(Au标样表面分析)4.能量校准误差:0.05eV(NISTSRM2135标准物质)5.深度分辨率:≤1nm(Ta₂O₅/Si多层膜标样)检测范围1.半导体材料:硅基芯片表面掺杂浓度分布(B/P/As元素)2.金属合金:镍基高温合金γ/γ'相界面元素偏析分析3.高分子材料:PET薄膜表面氟化改性层厚度测量4.纳米涂层:DLC涂层sp/sp碳键
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1.离子动能分布范围:0-1000eV连续可调,步进精度0.1eV
2.动能分辨率:≤0.5eV(FWHM@Ar+500eV)
3.信噪比指标:≥10000:1(Au标样表面分析)
4.能量校准误差:0.05eV(NISTSRM2135标准物质)
5.深度分辨率:≤1nm(Ta₂O₅/Si多层膜标样)
1.半导体材料:硅基芯片表面掺杂浓度分布(B/P/As元素)
2.金属合金:镍基高温合金γ/γ'相界面元素偏析分析
3.高分子材料:PET薄膜表面氟化改性层厚度测量
4.纳米涂层:DLC涂层sp/sp碳键比例测定
5.生物材料:钛合金骨科植入物表面羟基磷灰石结晶度评估
1.ASTME1504-2021《表面分析中离子动能谱仪校准规程》
2.ISO18118:2022《表面化学分析-俄歇电子能谱与XPS的定量分析》
3.GB/T23456-2009《表面化学分析-二次离子质谱术术语》
4.ISO20903:2019《表面化学分析-深度剖析中溅射产额测定》
5.GB/T28894-2012《表面化学分析-分析前样品处理指南》
1.ThermoScientificK-Alpha+:配备单色化AlKαX射线源(1486.6eV),用于化学态定量分析
2.Ulvac-PHIQuantes:配置双束Ar+溅射枪(0.1-5keV),实现三维成分重构
3.SPECSPHOIBOS150:半球型能量分析器(能量分辨率<0.3eV),支持角分辨测量模式
4.KratosAXISSupra:集成电荷中和系统(磁浸没透镜),适用于绝缘体样品测试
5.OmicronEA125:五通道电子倍增器阵列(计数率≥10⁶cps),提升低浓度元素检出限
6.ScientaOmicronArgus:二维位置敏感探测器(128通道),缩短数据采集时间80%
7.RBDInstruments1470:脉冲离子源(脉宽10ns),实现飞行时间动能同步测量
8.HidenAnalyticalSIMSWorkstation:四极杆质量过滤器(m/z1-1000amu),兼容动态SIMS模式
9.STAIBInstrumentsDESA100:延迟提取能量补偿装置(补偿电压50V),消除样品荷电效应
10.PrevacEA14:低温样品台(77K-500K),研究温度敏感材料表面特性
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"质量分析离子动能谱仪检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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