检测项目
1.碲纯度分析：采用差减法测定Te含量≥99.99%的高纯物质
2.杂质元素检测：包括Pb、Cu、Fe等20种痕量元素（检出限0.1-5ppm）
3.晶体结构表征：XRD分析六方晶系（空间群P3121）参数
4.热稳定性测试：TG-DSC联用测定熔点4522℃，分解温度＞650℃
5.表面形貌观测：SEM-EDS联用分析晶粒尺寸（1-50μm）及元素分布
检测范围
1.高纯碲锭（4N-6N级）及单晶材料
2.CdTe光伏薄膜与HgCdTe红外探测器基材
3.铜碲合金（Cu2Te）导电材料
4.铅锌冶炼副产品碲化物
5.光学玻璃用TeO2添加剂
检测方法
1.ASTME1217-21《高纯金属中杂质元素的ICP-MS测定》
2.ISO17025:2017《金属材料X射线衍射定量相分析》
3.GB/T4325.1-2013《碲化学分析方法第1部分：碲量的测定》
4.ISO18118:2015《表面化学分析-俄歇电子能谱和X射线光电子能谱》
5.GB/T17473.6-2022《微电子技术用贵金属浆料测试方法》
检测设备
1.ThermoScientificiCAPRQICP-MS：痕量元素定量分析（质量数范围2-260amu）
2.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：θ/θ测角仪（2θ精度0.0001）
3.NetzschSTA449F5同步热分析仪：TG-DSC联用（最高温度1600℃）
4.HitachiSU5000场发射电镜：分辨率1.0nm@15kV（EDS探测器BrukerXFlash630）
5.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪：火焰/石墨炉双模式
6.Agilent8900ICP-MS/MS：MS/MS模式消除质谱干扰
7.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm
8.RigakuZSXPrimusIVXRF光谱仪：Rh靶（50kV/60mA）
9.MettlerToledoXP205分析天平：称量精度0.01mg
10.LabsphereUV-1000F透射率测试系统：光谱范围200-2500nm