面光栅检测概述:检测项目1.线密度精度:测量每毫米刻线数偏差(0.5lines/mm)2.衍射效率均匀性:全视场范围内效率波动≤3%3.基片平整度:PV值≤0.1μm(@632.8nm)4.槽形对称度:侧壁角偏差≤0.55.环境稳定性:温度循环(-40℃~85℃)后形变≤50nm检测范围1.光学玻璃基片面光栅(K9、熔石英材质)2.聚合物薄膜光栅(PET、PC基底)3.金属镀层光栅(铝膜、金膜反射式)4.全息记录光栅(重铬酸盐明胶体系)5.
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.线密度精度:测量每毫米刻线数偏差(0.5lines/mm)
2.衍射效率均匀性:全视场范围内效率波动≤3%
3.基片平整度:PV值≤0.1μm(@632.8nm)
4.槽形对称度:侧壁角偏差≤0.5
5.环境稳定性:温度循环(-40℃~85℃)后形变≤50nm
1.光学玻璃基片面光栅(K9、熔石英材质)
2.聚合物薄膜光栅(PET、PC基底)
3.金属镀层光栅(铝膜、金膜反射式)
4.全息记录光栅(重铬酸盐明胶体系)
5.纳米压印光栅(周期200-1000nm)
ASTME2867-19衍射效率测试规范
ISO10110-5表面形貌公差标注标准
GB/T13334-2018光栅线密度校准规程
ISO14999-4光学元件波前畸变测试
GB/T26331-2010光学薄膜环境试验方法
ZygoVerifireHDX激光干涉仪:基片平整度测量(λ/100精度)
BrukerContourElite白光干涉仪:表面粗糙度分析(0.1nm分辨率)
ShimadzuAIM-9000红外显微镜:薄膜附着力无损检测
OceanInsightQEPro光谱仪:衍射效率定量分析(350-1100nm)
RenishawinVia显微拉曼系统:材料应力分布测试
KeyenceVHX-7000数字显微镜:微结构三维重建(5000倍放大)
AgilentCary7000全能型分光光度计:偏振特性分析
TescanMira3SEM扫描电镜:纳米级槽形表征(5nm分辨率)
EspecPL-3J恒温恒湿箱:环境可靠性试验(0.5℃控温)
TriopticsMTF测量仪:调制传递函数测试(符合ISO12233标准)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与面光栅检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。