检测项目

1.几何畸变率：测量表面曲率偏差值（0.05mm/m）

2.色差容限：CIELabΔE≤1.5（D65光源）

3.像素异常密度：缺陷点密度≤3个/cm（50μm分辨率）

4.纹理一致性：灰度共生矩阵对比度偏差≤15%

5.透光均匀性：可见光波段（380-780nm）透射率波动≤2%

检测范围

1.光学薄膜：包括AR/AG防眩膜、ITO导电膜等

2.半导体晶圆：12英寸硅片表面微缺陷

3.高分子复合材料：碳纤维增强环氧树脂层压板

4.精密模具：注塑模具表面蚀纹一致性

5.印刷电路板：HDI板微孔阵列形貌

检测方法

1.ASTMF1241-22光学薄膜表面缺陷数字图像分析法

2.ISO13660:2019电子成像系统印刷品缺陷评估标准

3.GB/T29558-2013表面视觉检测系统通用规范

4.ISO25178-2:2022表面纹理三维测量标准

5.GB/T38252-2019机器视觉光源环境技术要求

检测设备

1.KeyenceVHX-7000数字显微镜：5000万像素CMOS，20nm纵向分辨率

2.OlympusDSX1000景深扩展成像系统：Z轴重复精度0.1μm

3.BrukerContourGT-X3白光干涉仪：0.01nm垂直分辨率

4.ThermoScientificPrismaESEM：1nm分辨率场发射电镜

5.ZeissAxioImagerM2m金相显微镜：微分干涉对比功能

6.HitachiUH4150分光光度计：波长精度0.08nm

7.MitutoyoQuickVisionPro影像测量仪：XY轴精度(1.5+3L/1000)μm

8.NikonNEXIVVMZ-S3020视频测量系统：30倍光学变焦镜头组

9.HexagonLeitzPMM-C超高精度三坐标机：MPEE=0.9+L/350μm

10.ShimadzuAIM-9000红外热像仪：640480像素微测辐射热计

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与奇异图检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。