


概述:检测项目1.位移测量精度:线性位移分辨率0.1nm,最大量程80m(RenishawXL-80系统)2.平面度误差分析:平面度偏差≤λ/20(λ=632.8nm),测量面积直径≥300mm3.振动特性测试:频率范围0.1Hz-25kHz,振幅分辨率1nmRMS4.角度偏差测量:角分辨率0.01arcsec,量程105.表面粗糙度评估:Ra测量范围1nm-10μm,横向分辨率0.5μm检测范围1.光学元件:包括平面镜、棱镜、透镜的表面形貌与面形误差2.半导体晶圆:硅片厚度均匀性(TTV≤1μm)与翘曲度(W
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.位移测量精度:线性位移分辨率0.1nm,最大量程80m(RenishawXL-80系统)
2.平面度误差分析:平面度偏差≤λ/20(λ=632.8nm),测量面积直径≥300mm
3.振动特性测试:频率范围0.1Hz-25kHz,振幅分辨率1nmRMS
4.角度偏差测量:角分辨率0.01arcsec,量程10
5.表面粗糙度评估:Ra测量范围1nm-10μm,横向分辨率0.5μm
1.光学元件:包括平面镜、棱镜、透镜的表面形貌与面形误差
2.半导体晶圆:硅片厚度均匀性(TTV≤1μm)与翘曲度(Warp≤5μm)
3.精密导轨:直线运动定位精度(0.5μm/m)与重复定位精度(0.2μm)
4.MEMS器件:微结构振动模态分析(频率精度0.1%)与动态变形量测量
5.航空航天部件:涡轮叶片热变形量(量程500μm)与装配间隙测量
ISO10110-5:2015光学元件表面不规则度测试方法
ASTME2244-22激光干涉法测量线性位移标准方法
GB/T16857-2017产品几何量技术规范(GPS)激光干涉仪检测规程
ISO16063-11:2021振动与冲击传感器校准方法
GB/T1800.3-2020产品几何技术规范(GPS)线性尺寸公差
1.RenishawXL-80激光干涉系统:线性测量精度0.5ppm,最大速度4m/s
2.ZygoVerifireMST超精密面形仪:PV值测量重复性<λ/1000
3.Keysight5530动态校准仪:支持6自由度误差测量(线性/角度/直线度/偏摆/俯仰/滚转)
4.PolytecPSV-500扫描式测振仪:频率范围DC-25MHz,速度分辨率0.02μm/s
5.SIOSSP-2000纳米测量机:环境补偿精度0.05ppm,温度稳定性0.01℃
6.TaylorHobsonCCIHD非接触轮廓仪:垂直分辨率0.01nm,横向采样间隔50nm
7.Agilent10706A双频激光干涉仪:空气折射率实时补偿精度110⁻⁸
8.MitutoyoMF-U1000超精密测长机:最大测量长度1000mm,不确定度0.02μm+0.3Lμm/m
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"激光干涉仪检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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