检测项目

1.能级间距测量：分辨率≤0.1GHz（1-100THz频段）

2.跃迁概率分析：误差范围5%（基于时间分辨荧光光谱）

3.退相干时间测定：T1/T2值精度0.5μs（0.01-10ms量程）

4.耦合强度标定：耦合系数g/2π≥10MHz（非线性误差＜3%）

5.环境噪声抑制比：信噪比≥60dB（10mK极低温环境）

检测范围

1.超导量子比特：铝基/铌基约瑟夫森结器件

2.半导体量子点：GaAs/InAs异质结构材料

3.离子阱系统：镱离子/钙离子囚禁阵列

4.拓扑量子材料：Bi₂Se₃薄膜及纳米线样品

5.光子晶体谐振腔：硅基氮化硅微环结构

检测方法

1.ASTME2995-17：微波频段能谱标定规程

2.ISO18562-3:2017：低温环境下电磁兼容性测试

3.GB/T36500-2018：量子器件退相干特性评估方法

4.IEC61788-25:2018：超导材料临界电流密度测试

5.GB/T39143-2020：半导体量子点发光效率测量规范

检测设备

1.QuantumDesignPPMSDynaCool：综合物性测量系统（磁场强度9T）

2.ZurichInstrumentsUHFLI锁相放大器：频率范围0-600MHz（24位ADC）

3.BlueForsLD400稀释制冷机：基础温度10mK（冷却功率400μW@100mK）

4.KeysightN9030B信号分析仪：频谱分析带宽44GHz（相位噪声-148dBc/Hz）

5.AttocubeANPx101低温纳米定位器：位移精度0.3nm（4K环境）

6.OxfordInstrumentsTriton200干式恒温器：温度稳定性0.5mK（1.5-300K）

7.Rohde&SchwarzSMM100A矢量信号源：输出频率40GHz（EVM≤0.8%）

8.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：横向分辨率0.2nm（PeakForce模式）

9.StanfordResearchSR830DSP锁相放大器：动态储备＞100dB（时间常数10μs-30ks）

10.ThorlabsHRS300光谱仪：波长范围350-1100nm（光栅刻线1200lines/mm）