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概述:检测项目1.介电常数测定:频率范围1kHz-1MHz,测量精度0.052.表面电阻率测试:量程110~110⁶Ω/sq3.体积电阻率分析:测试电压100V-1000VDC4.击穿电压试验:升压速率500V/s20%5.电荷衰减时间:测量范围0.1s-3600s检测范围1.高分子聚合物材料(PC/ABS共混物、PTFE薄膜)2.半导体封装用环氧模塑料3.高压绝缘涂料(硅树脂基、聚氨酯基)4.电子元件封装用有机硅胶5.
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.介电常数测定:频率范围1kHz-1MHz,测量精度0.05
2.表面电阻率测试:量程110~110⁶Ω/sq
3.体积电阻率分析:测试电压100V-1000VDC
4.击穿电压试验:升压速率500V/s20%
5.电荷衰减时间:测量范围0.1s-3600s
1.高分子聚合物材料(PC/ABS共混物、PTFE薄膜)
2.半导体封装用环氧模塑料
3.高压绝缘涂料(硅树脂基、聚氨酯基)
4.电子元件封装用有机硅胶
5.防静电工程塑料(PEI、PEEK改性材料)
ASTMD150-18介电常数测试标准
IEC60093-1980体积电阻率测定规范
GB/T1410-2006表面电阻率试验方法
ISO1853-2018导电材料电阻特性测试
ASTMD257-14绝缘材料直流电阻测量标准
Agilent4294A精密阻抗分析仪:频率范围40Hz-110MHz
KeysightB2987A静电计:最小电流分辨率0.1fA
HIOKIIM3570阻抗分析仪:支持四端对测量模式
Trek152-1高压电源:输出电压0-10kVDC
Electro-TechSystems825电荷衰减测试仪:符合ANSI/ESDSTM11.11标准
MeggerMIT515绝缘电阻测试仪:测试电压50V-5kV可调
HaefelyHipotronicsHDC系列击穿电压测试系统:最大电压AC100kV/DC120kV
Keithley6517B高阻计:量程10mΩ至200PΩ
BrandenburgAlphaLab电荷计:分辨率0.1V精度
SchleichULTRA-TEMP温控试验箱:温度范围-70℃~+300℃
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"疏电子试剂检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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