检测项目
1.介电常数测定：频率范围1kHz-1MHz，测量精度0.05
2.表面电阻率测试：量程110~110⁶Ω/sq
3.体积电阻率分析：测试电压100V-1000VDC
4.击穿电压试验：升压速率500V/s20%
5.电荷衰减时间：测量范围0.1s-3600s
检测范围
1.高分子聚合物材料（PC/ABS共混物、PTFE薄膜）
2.半导体封装用环氧模塑料
3.高压绝缘涂料（硅树脂基、聚氨酯基）
4.电子元件封装用有机硅胶
5.防静电工程塑料（PEI、PEEK改性材料）
检测方法
ASTMD150-18介电常数测试标准
IEC60093-1980体积电阻率测定规范
GB/T1410-2006表面电阻率试验方法
ISO1853-2018导电材料电阻特性测试
ASTMD257-14绝缘材料直流电阻测量标准
检测设备
Agilent4294A精密阻抗分析仪：频率范围40Hz-110MHz
KeysightB2987A静电计：最小电流分辨率0.1fA
HIOKIIM3570阻抗分析仪：支持四端对测量模式
Trek152-1高压电源：输出电压0-10kVDC
Electro-TechSystems825电荷衰减测试仪：符合ANSI/ESDSTM11.11标准
MeggerMIT515绝缘电阻测试仪：测试电压50V-5kV可调
HaefelyHipotronicsHDC系列击穿电压测试系统：最大电压AC100kV/DC120kV
Keithley6517B高阻计：量程10mΩ至200PΩ
BrandenburgAlphaLab电荷计：分辨率0.1V精度
SchleichULTRA-TEMP温控试验箱：温度范围-70℃~+300℃