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概述:检测项目1.平均晶粒度测定:测量范围0.1-2000μm,误差≤5%2.晶粒尺寸分布分析:统计D10/D50/D90值及变异系数3.晶界角度分布:测量角度分辨率0.1,统计低角(<15)与高角晶界比例4.孔隙率检测:精度达0.01%,可测孔径范围10nm-500μm5.显微硬度映射:载荷范围10mN-10N,空间分辨率≤2μm检测范围1.高温合金:镍基/钴基超合金叶片及涡轮盘2.硬质合金:WC-Co系切削刀具及耐磨部件3.结构陶瓷:Al₂O₃/ZrO₂/SiC烧结体4.金属基复合材料:SiC颗粒增强铝基复
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1.平均晶粒度测定:测量范围0.1-2000μm,误差≤5%
2.晶粒尺寸分布分析:统计D10/D50/D90值及变异系数
3.晶界角度分布:测量角度分辨率0.1,统计低角(<15)与高角晶界比例
4.孔隙率检测:精度达0.01%,可测孔径范围10nm-500μm
5.显微硬度映射:载荷范围10mN-10N,空间分辨率≤2μm
1.高温合金:镍基/钴基超合金叶片及涡轮盘
2.硬质合金:WC-Co系切削刀具及耐磨部件
3.结构陶瓷:Al₂O₃/ZrO₂/SiC烧结体
4.金属基复合材料:SiC颗粒增强铝基复合材料
5.纳米晶材料:机械合金化制备的纳米结构块体
ASTME112-13:标准晶粒度测定方法(截距法/面积法)
ISO643:2019:钢的奥氏体晶粒度评级规范
GB/T6394-2017:金属平均晶粒度测定方法
ASTME1382-97(2015):自动图像分析晶粒度表征标准
ISO13383-1:2012:精细陶瓷显微结构表征指南
1.HitachiSU5000场发射扫描电镜:分辨率1nm@15kV,配备EBSD探头
2.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD系统:角度分辨率0.5,采集速度≥3000点/秒
3.ZeissAxioImager.M2m金相显微镜:最大放大倍数1500,配备ClemexPE4.0图像分析软件
4.ShimadzuHMV-G21显微硬度计:最大载荷10N,压痕自动测量精度0.1μm
5.ThermoScientificHeliosG4UXe双束电镜:离子束加速电压0.5-30kV,三维重构功能
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9.NetzschDIL402C热膨胀仪:温度范围RT-1600℃,膨胀量分辨率1nm
10.KeyenceVHX-7000数字显微镜:景深合成功能,三维表面形貌重建
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"致密晶粒检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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精准检测各类化工产品的成分、纯度及物理化学性质,确保产品质量符合国家标准。服务涵盖有机溶剂分析、催化剂表征、高分子材料分子量测定等。
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