折轴摄谱仪检测

检测项目1.波长范围校准:覆盖200-2500nm波段范围,误差≤0.1nm2.光谱分辨率测试:全波段FWHM≤0.05nm(@632.8nm)3.光通量效率验证:峰值透射率≥85%(@550nm)4.杂散光抑制比:≤0.01%(@532nm二级衍射光)5.系统重复性误差:连续10次测量RSD≤0.3%检测范围1.金属材料:铝合金表面氧化膜厚度(50-500nm)光谱分析2.半导体器件:GaN基LED芯片发光波长(380-650nm)特性测试3.光学薄膜:AR镀膜(400-700nm)透过率曲线测定4.环

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检测项目

1.波长范围校准:覆盖200-2500nm波段范围,误差≤0.1nm

2.光谱分辨率测试:全波段FWHM≤0.05nm(@632.8nm)

3.光通量效率验证:峰值透射率≥85%(@550nm)

4.杂散光抑制比:≤0.01%(@532nm二级衍射光)

5.系统重复性误差:连续10次测量RSD≤0.3%

检测范围

1.金属材料:铝合金表面氧化膜厚度(50-500nm)光谱分析

2.半导体器件:GaN基LED芯片发光波长(380-650nm)特性测试

3.光学薄膜:AR镀膜(400-700nm)透过率曲线测定

4.环境监测:大气污染物特征吸收峰(NO₂@440nm,SO₂@290nm)识别

5.生物医药:蛋白质溶液紫外吸收光谱(190-300nm)定量分析

检测方法

ASTME275-08(2017):紫外、可见、近红外分光光度计性能验证标准

ISO21258:2010:固定源排放-氮氧化物测量-高性能吸收光谱法

GB/T13323-2009:光学分光仪器通用技术条件

GB/T32211-2015:光谱仪器用单色仪测试方法

IEC62341-6-2:2012:有机发光二极管(OLED)光电参数测量规范

检测设备

1.OceanOpticsHR4000CG-UV-NIR:高分辨率光纤光谱仪(200-1100nm)

2.ShimadzuUV-3600iPlus:双单色器紫外可见近红外分光光度计

3.AgilentCary7000UMS:全自动紫外可见近红外光谱系统(175-3300nm)

4.HoribaiHR550:成像光谱仪(190-5000nm),焦长550mm

5.BrukerVERTEX80v:真空型傅里叶变换红外光谱仪(10-28,000cm⁻)

6.AvantesAvaSpec-ULS2048CL-EVO:深紫外增强型阵列光谱仪(200-1160nm)

7.PerkinElmerLambda1050+:双光束分光光度计带积分球附件

8.AndorShamrockSR-500i:成像光谱仪配iVac制冷CCD探测器

9.JascoFP-8500:荧光分光光度计(200-900nm激发波长)

10.ThermoScientificGENESYS150UV-Vis:单光束扫描式分光光度计

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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