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概述:检测项目1.晶格常数测定:a轴长度(0.295-0.330nm)、c轴长度(0.468-0.520nm)及c/a比值(1.58-1.63)2.晶体取向偏差分析:基面(0001)与棱柱面(10-10)夹角偏差≤0.53.位错密度计算:通过Williamson-Hall法测定(10^6-10^8cm^-2)4.残余应力分布:表面应力梯度≤50MPa/μm5.相组成分析:α相含量≥95%,β相含量≤3%检测范围1.钛合金:TC4(Ti-6Al-4V)、TA7(Ti-5Al-2.5Sn)等航空材料2.镁合金:AZ
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.晶格常数测定:a轴长度(0.295-0.330nm)、c轴长度(0.468-0.520nm)及c/a比值(1.58-1.63)
2.晶体取向偏差分析:基面(0001)与棱柱面(10-10)夹角偏差≤0.5
3.位错密度计算:通过Williamson-Hall法测定(10^6-10^8cm^-2)
4.残余应力分布:表面应力梯度≤50MPa/μm
5.相组成分析:α相含量≥95%,β相含量≤3%
1.钛合金:TC4(Ti-6Al-4V)、TA7(Ti-5Al-2.5Sn)等航空材料
2.镁合金:AZ31B、ZK60等轻量化结构材料
3.氧化铝陶瓷:Al₂O₃含量≥99%的高纯陶瓷
4.氮化硼陶瓷:h-BN含量≥98%的导热材料
5.石墨烯复合材料:六方晶格层间距0.3350.005nm
1.ASTME112-13:晶粒尺寸测定标准
2.ISO20283-5:2017:金属材料振动测试方法
3.GB/T13301-2019:金属材料残余应力测定通则
4.ASTME975-20:X射线衍射残余应力测试标准
5.GB/T30758-2014:电子背散射衍射分析方法
1.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:配备LynxEye阵列探测器,角度分辨率0.0001
2.FEINovaNanoSEM450场发射扫描电镜:分辨率1.0nm@15kV
3.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD系统:采集速度3000点/秒
4.RigakuSmartLab高分辨衍射仪:配备HyPix-3000二维探测器
5.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD平台:配置应力分析专用模块
6.ShimadzuXRD-7000衍射仪:配备高温附件(室温-1600℃)
7.ZeissSigma500热场发射电镜:配备EDS/EBSD联用系统
8.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪:空间分辨率0.5μm
9.Keysight9500原子力显微镜:Z轴分辨率0.1nm
10.AntonPaarXRDynamic500应力分析仪:集成全自动样品台
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"六方晶体检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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精准检测各类化工产品的成分、纯度及物理化学性质,确保产品质量符合国家标准。服务涵盖有机溶剂分析、催化剂表征、高分子材料分子量测定等。
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