检测项目

1.纯度检测：采用XRD/ICP-OES测定主成分含量（≥99.5%）

2.氢含量测定：惰性气体熔融法测定H/Sm原子比（1.8-2.2wt%）

3.粒度分布：激光衍射法分析D50值（1-50μm可调范围）

4.晶体结构分析：XRD半定量法测定立方相占比（≥95%）

5.杂质元素：ICP-MS测定Fe、Ca、O等14种元素（单元素≤50ppm）

6.热稳定性测试：TG-DSC联用测定分解温度（≥300℃）

检测范围

1.稀土金属粉末：SmH₂基体材料及复合粉末

2.储氢合金：SmH₂-Ni/Mg基合金电极材料

3.磁性材料：SmH₂-Fe/Nd系永磁前驱体

4.核工业材料：中子吸收剂用高纯SmH₂颗粒

5.催化剂：甲烷重整用SmH₂-Al₂O₌载体材料

6.科研样品：纳米级SmH₂薄膜及多孔材料

检测方法

1.GB/T18115.5-2006稀土金属及其氧化物化学分析方法

2.ASTME1447-22惰性气体熔融法测定金属氢含量

3.ISO13320:2020激光衍射法粒度分析通则

4.JISK0131-2021X射线衍射定量分析通则

5.GB/T20127-2006金属材料热分析试验方法

6.ISO17294-2:2016ICP-MS水质分析扩展至固体样品

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：θ/θ测角仪系统（Cu靶Kα辐射）

2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：干湿法双模测量（0.01-3500μm）

3.NetzschSTA449F3同步热分析仪：TG-DSC联用（RT-1650℃）

4.Agilent7900ICP-MS：三重四极杆质谱（检出限≤ppt级）

5.LecoRHEN602氢分析仪：脉冲加热红外检测（0.1ppm分辨率）

6.BrukerD8ADVANCEXRD：LYNXEYE阵列探测器（扫描速度10/min）

7.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：双向观测等离子体（轴向RSD＜1%）

8.ShimadzuEDX-8000X荧光光谱仪：铑靶X光管（Be窗厚度75μm）

9.MettlerToledoTGA/DSC3+：超微量天平（0.1μg分辨率）

10.HoribaLA-960激光散射仪：532nm/405nm双波长系统（ISO13320认证）