极小簇检测

检测项目

1.簇团尺寸分布：测量0.1-10μm范围内D10/D50/D90值及PDI指数

2.表面形貌特征：分析粗糙度Ra≤0.5nm的三维表面拓扑结构

3.元素组成分析：检测C/O/N等轻元素含量（精度0.1at%）

4.晶体结构表征：解析晶格间距（分辨率0.02nm）及晶型占比

5.分散稳定性：测定Zeta电位（50mV范围）及沉降速率（0.1mL/h）

6.比表面积测定：BET法测量0.01-2000m/g比表面积

检测范围

1.纳米复合材料：碳纳米管/石墨烯复合体系

2.金属超细粉末：粒径≤500nm的Ag/Cu/Al粉末

3.催化剂载体：介孔二氧化硅/氧化铝负载型催化剂

4.半导体量子点：CdSe/ZnS核壳结构纳米颗粒

5.生物医药材料：脂质体/聚合物胶束载药系统

6.陶瓷前驱体：溶胶-凝胶法制备的ZrO₂粉体

检测方法

1.ASTME2859-11：激光衍射法测定粒径分布

2.ISO21363:2020：透射电镜(TEM)定量分析方法

3.GB/T19077-2016：粒度分析激光衍射法

4.ISO22412:2017：动态光散射法测量纳米颗粒

5.ASTME2865-12：扫描电镜(SEM)图像分析法

6.GB/T19587-2017：气体吸附BET法测定比表面积

检测设备

1.FEINovaNanoSEM450：场发射扫描电镜，分辨率0.8nm@15kV

2.MalvernMastersizer3000：激光粒度仪，测量范围0.01-3500μm

3.BrukerD8ADVANCE：X射线衍射仪，角度精度0.0001

4.ShimadzuSALD-7500nano：纳米粒度分析仪，检测下限0.5nm

5.ThermoFisherESCALABXi+：X射线光电子能谱仪，能量分辨率<0.45eV

6.MicromeriticsASAP2460：比表面及孔隙度分析仪，孔径测量0.35-500nm

7.JEOLJEM-ARM300F：球差校正透射电镜，点分辨率0.08nm

8.AntonPaarLitesizer500：动态光散射仪，Zeta电位测量精度1mV

9.Keysight5500AFM：原子力显微镜，Z轴分辨率0.1nm

10.HoribaLabRAMHREvolution：拉曼光谱仪，空间分辨率200nm

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"极小簇检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。