检测项目
1.簇团尺寸分布：测量0.1-10μm范围内D10/D50/D90值及PDI指数
2.表面形貌特征：分析粗糙度Ra≤0.5nm的三维表面拓扑结构
3.元素组成分析：检测C/O/N等轻元素含量（精度0.1at%）
4.晶体结构表征：解析晶格间距（分辨率0.02nm）及晶型占比
5.分散稳定性：测定Zeta电位（50mV范围）及沉降速率（0.1mL/h）
6.比表面积测定：BET法测量0.01-2000m/g比表面积
检测范围
1.纳米复合材料：碳纳米管/石墨烯复合体系
2.金属超细粉末：粒径≤500nm的Ag/Cu/Al粉末
3.催化剂载体：介孔二氧化硅/氧化铝负载型催化剂
4.半导体量子点：CdSe/ZnS核壳结构纳米颗粒
5.生物医药材料：脂质体/聚合物胶束载药系统
6.陶瓷前驱体：溶胶-凝胶法制备的ZrO₂粉体
检测方法
1.ASTME2859-11：激光衍射法测定粒径分布
2.ISO21363:2020：透射电镜(TEM)定量分析方法
3.GB/T19077-2016：粒度分析激光衍射法
4.ISO22412:2017：动态光散射法测量纳米颗粒
5.ASTME2865-12：扫描电镜(SEM)图像分析法
6.GB/T19587-2017：气体吸附BET法测定比表面积
检测设备
1.FEINovaNanoSEM450：场发射扫描电镜，分辨率0.8nm@15kV
2.MalvernMastersizer3000：激光粒度仪，测量范围0.01-3500μm
3.BrukerD8ADVANCE：X射线衍射仪，角度精度0.0001
4.ShimadzuSALD-7500nano：纳米粒度分析仪，检测下限0.5nm
5.ThermoFisherESCALABXi+：X射线光电子能谱仪，能量分辨率<0.45eV
6.MicromeriticsASAP2460：比表面及孔隙度分析仪，孔径测量0.35-500nm
7.JEOLJEM-ARM300F：球差校正透射电镜，点分辨率0.08nm
8.AntonPaarLitesizer500：动态光散射仪，Zeta电位测量精度1mV
9.Keysight5500AFM：原子力显微镜，Z轴分辨率0.1nm
10.HoribaLabRAMHREvolution：拉曼光谱仪，空间分辨率200nm