可送检的样品类型与对应检测项目

样品类型 典型应用场景 主要检测项目 常用方法 / 参考
生物组织超薄切片 肝、肾、心肌、神经等动物组织及植物组织的细胞器形态与超微病变研究 线粒体、内质网、高尔基体、细胞核、细胞膜等细胞器超微结构形态与尺寸测量,细胞器肿胀、空泡化、嵴断裂等病变判定 戊二醛-锇酸双固定、梯度脱水、环氧树脂包埋、醋酸双氧铀-柠檬酸铅双染色,参考GB/T 28044-2011
细胞与病毒样品 培养细胞、细菌、病毒的形态鉴定与感染定位 病毒颗粒大小与形态(20-300nm)、核衣壳排列、包膜结构、细菌鞭毛与菌毛、病毒在细胞内的装配与出芽定位 负染(1%-2%磷钨酸)、超薄切片、冷冻切片,参考GB/T 35098-2018、GB/T 34331-2017
纳米粉末与纳米材料 金、银纳米颗粒、量子点、碳纳米管、氧化物纳米粉体 粒径与粒径分布、形貌(球形/棒状/管状)、团聚状态、晶格条纹、壳层厚度测量、颗粒成分确认 铜网碳支持膜分散、高分辨成像,参考GB/T 34168-2017、GB/T 27765-2011
半导体薄膜与器件 GaN、SiC外延层、量子阱、多层膜界面结构 位错类型与位错密度(10⁸-10¹²cm⁻²)、层错、孪晶、界面粗糙度、外延层厚度、组分梯度 截面制样(离子减薄/聚焦离子束)、双束条件成像,依据GB/T 44558-2024
金属与合金材料 铝合金析出相、钢铁组织、高温合金γ'相、焊缝界面 析出相尺寸(数纳米-数十纳米)、形貌与分布、位错组态、晶界结构、微区成分(TEM-EDS) 电解双喷减薄、离子减薄,配套能谱分析参考GB/T 18873-2008
高分子与复合材料 聚合物共混物相分离、纳米填料分散、乳液粒子、微胶囊壁厚 相区尺寸与形态、填料分散均匀性、界面结合状态、乳液粒径(50-500nm)、壁厚测量 冷冻超薄切片(-160--120℃)、常规超薄切片、四氧化钌染色

检测项目

1. 超微结构形貌观察:放大50-1,500,000×,点分辨率0.17-0.24nm,可分辨细胞器、病毒与纳米颗粒细节

2. 高分辨晶格像:晶格分辨率0.14-0.24nm,球差校正后优于0.08nm,晶面间距测量精度达0.001nm

3. 选区电子衍射:物相鉴定、晶带轴标定、织构与有序结构判定,相机长度0.4-2.0m

4. 位错与缺陷分析:位错密度测量范围10⁸-10¹²cm⁻²,刃位错、螺位错与混合位错判定,层错与孪晶分析

5. 微区成分分析:元素范围Be-U,空间分辨率达纳米级,能量分辨率≤129eV(Mn Kα),支持线扫描与元素面分布

6. 粒径统计与分布:纳米颗粒计数不少于300个,给出数均粒径、D50与标准差,测量范围1-500nm

检测范围

1. 生物组织:肝脏、肾脏、心肌、脑、肿瘤组织及植物根茎叶的超薄切片

2. 细胞与微生物:原代与传代培养细胞、细菌、酵母、病毒颗粒(20-300nm)

3. 纳米材料:金纳米颗粒(5-100nm)、量子点(2-10nm)、碳纳米管(直径0.4-100nm)、石墨烯层数判定

4. 半导体与功能薄膜:GaN、SiC外延层、多层膜、量子阱、磁记录多层结构

5. 金属材料:铝合金时效析出相、高温合金γ'相、冷变形位错结构、焊接界面

6. 高分子材料:共混物相形态、胶乳粒子、微胶囊、纳米复合材料填料分散

检测方法

1. GB/T 28044-2011 纳米材料生物效应的透射电子显微镜检测方法通则

2. GB/T 44558-2024 III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法

3. GB/T 35098-2018 微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法

4. GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则

5. GB/T 34168-2017 金、银纳米颗粒材料生物效应的透射电子显微镜检测方法

6. GB/T 34331-2017 黄瓜绿斑驳花叶病毒透射电子显微镜检测方法

检测设备

1. 场发射透射电子显微镜(JEM-2100型,200kV):点分辨率0.23nm,晶格分辨率0.14nm,放大50-1,500,000×

2. 球差校正透射电子显微镜(300kV):信息分辨率优于0.08nm,配明场、暗场与高分辨成像

3. 生物透射电子显微镜(120kV):加速电压80-120kV,适合低剂量生物样品观察

4. 超薄切片机(EM UC7型):切片厚度设定50-100nm,厚度进给1nm,配玻璃刀与钻石刀

5. 冷冻超薄切片机:切片温度-160--120℃,用于高分子与含溶剂样品

6. 离子减薄仪(RES101型):氩离子束2-6keV,入射角3-10°,终抛0.5-1keV

7. 双喷电解减薄仪(MTP-1A型):电解液温控-35-10℃,双喷孔径1-3mm

8. 聚焦离子束(Helios型):镓离子束流1pA-65nA,截面加工精度10nm

9. X射线能谱仪(硅漂移探测器):元素范围Be-U,能量分辨率≤129eV(Mn Kα)

10. 真空喷镀仪与制网设备:碳膜厚度10-20nm,配200目铜网与微栅