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射线摄谱学检测

  • 原创官网
  • 2025-05-23 11:04:49
  • 关键字:射线摄谱学测试案例,射线摄谱学测试范围,射线摄谱学测试方法
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射线摄谱学检测概述:检测项目1.金属材料元素分析:测定Fe、Al、Ti等基体元素含量(0.01wt%-99.99wt%),Cr、Ni等痕量元素检出限0.001wt%2.镀层厚度测量:可测Zn、Sn等镀层(1-200μm),精度0.5μm3.矿石成分鉴定:SiO₂、CaCO₃等矿物相定量分析(RSD≤2%)4.电子元器件焊点检测:Sn-Pb焊料成分偏差≤1.5%5.污染物筛查:RoHS指令限制的Cd(<100ppm)、Pb(<1000ppm)等重金属检测范围1.金属材料:不锈钢、铝合金、钛合金等铸造/锻造件2.电子元件:PCB


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检测项目

1.金属材料元素分析:测定Fe、Al、Ti等基体元素含量(0.01wt%-99.99wt%),Cr、Ni等痕量元素检出限0.001wt%
2.镀层厚度测量:可测Zn、Sn等镀层(1-200μm),精度0.5μm
3.矿石成分鉴定:SiO₂、CaCO₃等矿物相定量分析(RSD≤2%)
4.电子元器件焊点检测:Sn-Pb焊料成分偏差≤1.5%
5.污染物筛查:RoHS指令限制的Cd(<100ppm)、Pb(<1000ppm)等重金属

检测范围

1.金属材料:不锈钢、铝合金、钛合金等铸造/锻造件
2.电子元件:PCB板、BGA封装芯片、焊点
3.地质样品:岩浆岩、沉积岩、矿石粉末压片
4.环境样本:土壤重金属污染、大气颗粒物采集滤膜
5.生物医学材料:骨植入物羟基磷灰石涂层(Ca/P比1.670.02)

检测方法

1.ASTME1621-13:能量色散X射线荧光光谱法测定金属元素
2.ISO3497:2000:镀层厚度X射线荧光测定法
3.GB/T16597-2019:X射线荧光光谱分析方法通则
4.JISK0119:2017:波长色散X射线荧光光谱通则
5.GB/T30904-2014:无机化工产品X射线衍射定性分析

检测设备

1.ThermoScientificARLQUANT'XEDXRF光谱仪:能量分辨率<130eV,配备50W铑靶X光管
2.BrukerD8ADVANCEXRD衍射仪:2θ角范围5-165,精度0.0001
3.ShimadzuEDX-7000能量色散谱仪:Be窗探测器可测Na(11)-U(92)元素
4.PANalyticalAxiosMAX波长色散XRF:4kW超尖锐端窗X光管
5.RigakuZSXPrimusIVWDXRF:真空系统达10Pa,配备20位自动进样器
6.OlympusVantaM系列手持式XRF:IP54防护等级,现场快速筛查
7.HitachiEA1400X射线膜厚仪:最小测量直径0.1mm
8.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD:配备高温附件(室温-1600℃)
9.SkyrayInstrumentEDX3600B:50kV/1mA双光管设计
10.ElvatechX-MET8000Geo:专用于地质样品分析模式

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与射线摄谱学检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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