检测项目

1.金属材料元素分析：测定Fe、Al、Ti等基体元素含量（0.01wt%-99.99wt%），Cr、Ni等痕量元素检出限0.001wt%
2.镀层厚度测量：可测Zn、Sn等镀层（1-200μm），精度0.5μm
3.矿石成分鉴定：SiO₂、CaCO₃等矿物相定量分析（RSD≤2%）
4.电子元器件焊点检测：Sn-Pb焊料成分偏差≤1.5%
5.污染物筛查：RoHS指令限制的Cd（＜100ppm）、Pb（＜1000ppm）等重金属

检测范围

1.金属材料：不锈钢、铝合金、钛合金等铸造/锻造件
2.电子元件：PCB板、BGA封装芯片、焊点
3.地质样品：岩浆岩、沉积岩、矿石粉末压片
4.环境样本：土壤重金属污染、大气颗粒物采集滤膜
5.生物医学材料：骨植入物羟基磷灰石涂层（Ca/P比1.670.02）

检测方法

1.ASTME1621-13：能量色散X射线荧光光谱法测定金属元素
2.ISO3497:2000：镀层厚度X射线荧光测定法
3.GB/T16597-2019：X射线荧光光谱分析方法通则
4.JISK0119:2017：波长色散X射线荧光光谱通则
5.GB/T30904-2014：无机化工产品X射线衍射定性分析

检测设备

1.ThermoScientificARLQUANT'XEDXRF光谱仪：能量分辨率＜130eV，配备50W铑靶X光管
2.BrukerD8ADVANCEXRD衍射仪：2θ角范围5-165，精度0.0001
3.ShimadzuEDX-7000能量色散谱仪：Be窗探测器可测Na(11)-U(92)元素
4.PANalyticalAxiosMAX波长色散XRF：4kW超尖锐端窗X光管
5.RigakuZSXPrimusIVWDXRF：真空系统达10Pa，配备20位自动进样器
6.OlympusVantaM系列手持式XRF：IP54防护等级，现场快速筛查
7.HitachiEA1400X射线膜厚仪：最小测量直径0.1mm
8.MalvernPanalyticalEmpyreanXRD：配备高温附件（室温-1600℃）
9.SkyrayInstrumentEDX3600B：50kV/1mA双光管设计
10.ElvatechX-MET8000Geo：专用于地质样品分析模式