可送检的样品类型与对应检测项目
| 样品类型 | 典型应用场景 | 主要检测项目 | 常用方法 / 参考 |
|---|---|---|---|
| 稀土掺杂氟化物纳米晶 | 生物荧光成像、防伪标识、红外探测响应材料 | 上转换量子产率、发射光谱、荧光寿命、粒度分布、红绿比 | 积分球绝对法、GB/T 23595.1-2009、JJG 537-2006校准荧光分光光度计 |
| 白光LED用稀土荧光粉 | LED封装、显示背光、照明器件涂覆 | 量子产率、激发与发射光谱、色品坐标、热猝灭特性 | GB/T 23595.1-2009、稳态荧光光谱法 |
| 氟氧化物玻璃陶瓷与上转换玻璃 | 光纤放大器、红外上转换窗口、光学温度传感 | 上转换发光效率、荧光寿命、透过率、变温发光特性 | 稳态与瞬态荧光光谱联用法、变温样品舱 |
| 有机三重态湮灭上转换体系 | 太阳能利用、光催化、低光强上转换器件 | 上转换量子产率、延迟荧光寿命、敏化剂与湮灭剂配比表征 | 变功率稳态荧光法、时间分辨光谱法 |
| 上转换防伪油墨与标签材料 | 票据防伪、包装溯源、隐形标识 | 980纳米激发下发光强度、色品坐标、耐光稳定性 | 半导体激光激发配合光纤光谱仪 |
| 上转换纳米荧光探针 | 生物实验示踪、免疫标记、细胞成像对照材料 | 量子产率、粒径与分散性、发光稳定性、表面修饰一致性 | 动态光散射、荧光光谱、透射电镜形貌核对 |
| 稀土掺杂陶瓷与薄膜 | 波导器件、光学镀膜、温度传感膜层 | 发光强度比、寿命、量子产率、膜厚均匀性 | 变温荧光光谱法、椭偏测厚、X射线衍射物相核对 |
检测项目
1. 上转换量子产率：绝对法量程0.01%-50%，测量不确定度优于±3%
2. 上转换发射光谱：波长范围300-1700纳米，光谱分辨率优于1纳米，可给出红绿蓝支路强度比
3. 激发光谱与最佳激发波长：扫描范围350-1100纳米，典型激发980纳米、808纳米、1535纳米
4. 荧光衰减寿命：时间分辨率10纳秒，寿命范围10纳秒-10毫秒，支持双指数与三指数拟合
5. 发光强度功率依赖特性：双对数斜率0.5-3，用于判定双光子与三光子上转换过程
检测范围
1. 稀土氟化物纳米晶：NaYF4:Yb,Er、NaYF4:Yb,Tm、NaGdF4:Yb,Ho等六方相与立方相体系
2. 稀土氧化物发光材料：Y2O3:Yb,Er、Gd2O3:Eu、Lu2O3:Yb,Tm等粉体与陶瓷体
3. 上转换玻璃与玻璃陶瓷：氟氧化物、氟磷酸盐、碲酸盐等基质体系
4. 有机三重态湮灭体系：蒽类衍生物与卟啉类敏化剂组成的溶液与薄膜体系
5. 上转换功能材料器件化样品：防伪油墨、荧光温度探针膜、掺杂光纤预制段等
检测方法
1. GB/T 23595.1-2009 白光LED灯用稀土黄色荧光粉试验方法 第1部分：光谱性能的测定
2. JJG 537-2006 荧光分光光度计检定规程
3. GB/T 19077-2016 粒度分析 激光衍射法
4. GB/T 19587-2017 气体吸附BET法测定固态物质比表面积
5. GB/T 19619-2004 纳米材料术语
检测设备
1. 稳态与瞬态荧光光谱仪：激发200-1000纳米，发射200-1650纳米，光谱分辨率优于1纳米
2. 绝对量子产率测试系统（积分球式）：光谱范围300-1700纳米，量子产率测量范围0.01%-100%，重复性±2%
3. 半导体连续激光器：808纳米与980纳米可选，输出功率0-10瓦，功率稳定性优于±1%
4. 脉冲激光光源：脉宽纳秒至微秒量级，重复频率1-100千赫兹可调
5. 紫外可见近红外分光光度计：波长175-3300纳米，光谱带宽0.01-5纳米
6. 时间相关单光子计数系统：时间分辨率优于50皮秒，适合纳秒至微秒衰减过程
7. 动态光散射粒度仪：测量范围0.3纳米-10微米，适用于纳米晶水分散液粒径
8. X射线衍射仪：2θ扫描范围3-140度，用于物相与结晶性核对
9. 透射电子显微镜：点分辨率0.2纳米级，用于形貌与粒径统计
10. 电感耦合等离子体发射光谱仪：稀土元素定量分析，检出限低至0.01毫克/千克