可送检的样品类型与对应检测项目
| 样品类型 | 典型应用场景 | 主要检测项目 | 常用方法 / 参考 |
|---|---|---|---|
| 金属粉末 | 雾化铁粉、电解铜粉、不锈钢316L粉、钛合金TC4粉，用于粉末冶金成型与增材制造铺粉 | 粒度分布D10/D50/D90、粒度跨度、粒形参数（圆形度、长径比） | GB/T 19077-2016；ASTM B822-20；GB/T 21649.2-2017 |
| 电池材料粉体 | 磷酸铁锂、三元材料、人造石墨与硅碳负极，用于极片辊压与能量密度设计 | D50特征粒径控制、分布宽度、粒度分布曲线比对 | GB/T 19077-2016湿法；ISO 13320:2020 |
| 硬质合金与难熔金属粉末 | 碳化钨、钨粉、钼粉、碳化钛粉，用于合金晶粒度与烧结收缩控制 | 费氏平均粒径、粒度分布、比表面积等效粒径 | ASTM B330-15(2021)；GB/T 19077-2016 |
| 陶瓷粉体与喷雾造粒料 | 氧化铝、氧化锆、氮化硅微粉及造粒料，用于干压与注浆成型 | 一次颗粒粒径、造粒团粒粒径、双峰分布解析 | GB/T 19077-2016；GB/T 21649.2-2017图像法 |
| 纳米粉体与分散液 | 纳米二氧化钛、纳米碳酸钙、纳米氧化锌与纳米银分散液，用于功能涂层与改性 | 水动力粒径、多分散指数、粒度分布集中度 | ISO 22412:2017；GB/T 13221-2004 |
| 制药微粉 | 原料药微粉化颗粒、吸入粉雾剂载体，用于溶出度与肺部沉积效率评估 | 粒度分布、细颗粒占比、干法分散粒径 | GB/T 19077-2016干法；激光衍射干湿法对比 |
| 食品与化工粉末 | 乳粉、面粉、颜料、填料与功能粉体，用于口感、遮盖力与流动性控制 | 粒度均匀度、D90上限控制、筛上残留率 | GB/T 19077-2016；ISO 4497:1983筛分法 |
检测项目
1. 粒度分布特征值：D10/D50/D90累积分布粒径，激光衍射测量范围0.02-2000微米
2. 粒度分布跨度：跨度=(D90-D10)/D50，工艺粉体典型控制在0.8-2.0以内
3. 特征粒径控制：电池正极材料D50一般2-15微米，人造石墨负极D50一般8-20微米
4. 纳米水动力粒径：动态光散射测量范围0.3纳米-10微米，多分散指数0.05-0.7
5. 费氏平均粒径：空气透过法测定0.2-50微米，与比表面积等效换算互为校核
6. 筛分级配：325目（45微米）与500目（25微米）筛上残留率一般要求小于5%
7. 粒形参数：图像法统计圆形度0.7-1.0、长径比1-5，评价球形度与破碎程度
检测范围
1. 金属粉末：气雾化与水雾化316L不锈钢粉、TC4钛合金粉（15-53微米）、雾化铁粉、电解铜粉等
2. 电池材料粉体：磷酸铁锂、三元材料、人造石墨、硅碳负极等
3. 硬质合金粉末：超细与中颗粒碳化钨粉、钨粉、钼粉、碳化钛粉等
4. 陶瓷粉体：氧化铝微粉、氧化锆微粉、氮化硅粉、碳化硅微粉等
5. 纳米粉体：纳米二氧化钛、纳米氧化锌、纳米碳酸钙、纳米银分散液等
6. 制药与食品粉体：原料药微粉、吸入制剂颗粒、乳粉、可可粉等
检测方法
1. GB/T 19077-2016 粒度分析 激光衍射法
2. ISO 13320:2020 粒度分析 激光衍射法
3. ASTM B822-20 金属粉末及相关化合物粒度分布光散射法
4. ISO 22412:2017 粒度分析 动态光散射法
5. GB/T 13221-2004 纳米粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法
6. GB/T 21649.2-2017 粒度分析 图像分析法 第2部分：动态图像分析法
7. ISO 4497:1983 金属粉末 干筛分法测定粒度
8. ASTM B330-15(2021) 空气透过法估计金属粉末平均粒径
检测设备
1. 激光粒度仪：测量范围0.02-2000微米，红光635纳米与蓝光470纳米双光源，湿法与干法进样兼容
2. 动态光散射纳米粒度仪：粒径范围0.3纳米-10微米，检测角173度背散射，适用高浓度分散体系
3. 动态图像粒度粒形分析仪：测量范围0.5微米-30毫米，双相机高速成像，同步输出圆形度与长径比
4. 费氏平均粒径测定仪：测定范围0.2-50微米，空气透过法原理，双试样管平行测定
5. 沉降粒度仪：重力沉降与离心沉降结合，测量范围0.05-150微米，适合窄分布与密度大的粉体
6. 电感应区粒度仪：测量范围0.4-1200微米，小孔电阻原理，给出颗粒数量分布
7. 标准振筛机：配325目、500目等标准检验筛，拍击频率可调，用于筛分级配验证
8. 超声波分散器：分散功率50-250瓦可调，配循环泵用于湿法测量前处理
9. 扫描电子显微镜：分辨率1纳米量级，配合图像统计软件核对一次颗粒形貌与团聚状态
10. X射线小角散射仪：纳米级粒径分布测定范围1-300纳米，无需分散直接表征团聚粉体