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片状塞尺测试

  • 原创官网
  • 2025-02-20 09:27:46
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片状塞尺测试概述:片状塞尺测试是工业检测中评估材料厚度与间隙精度的核心手段,需通过系统性参数验证确保其符合工程标准。本文聚焦厚度偏差、平行度误差、表面粗糙度、硬度均匀性及尺寸稳定性五大检测项目,涵盖金属、高分子等五类材料的检测方法,严格参照ASTM/ISO标准执行,适用于CNAS/CMA双认可实验室的质量控制体系。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

厚度精度检测:测量范围0.02-10.00mm,分辨率达0.001mm,允差±0.5μm(≤1mm规格)

平行度偏差分析:全厚度段平行度公差≤0.003mm/25mm,采用三点式激光干涉法

表面粗糙度评价:Ra值控制0.1-0.8μm,按ISO 4287标准执行三维轮廓扫描

维氏硬度测试:载荷范围5-50N,硬度值HV 150-800,压痕对角线测量误差<2%

热膨胀系数验证:温度循环-40℃~+120℃,尺寸变化率要求≤0.002%/℃

检测范围

金属材料:冷轧不锈钢带(AISI 304/316)、钛合金箔材(Gr5/Gr23)

高分子材料:聚酰亚胺薄膜(Kapton® HN系列)、PTFE层压板

精密机械组件:轴承隔离片、涡轮机密封垫片组件

电子元件封装层:IC芯片绝缘隔片、PCB板定位垫片

复合材料层压结构:碳纤维/环氧树脂预浸料叠层件

检测方法

ASTM D374-19:固体电绝缘材料厚度测量标准,接触压力限定0.2N/mm²

ISO 4593:2021:塑料薄膜厚度测定,采用非接触式涡流传感器技术

ISO 6507-1:2023:金属材料维氏硬度试验,保载时间15±1秒

ASTM E177-20:测量系统不确定度评定,包含重复性&再现性(R&R)分析

ISO 11359-2:2021:热机械分析(TMA)法测定线性热膨胀系数

检测设备

Mitutoyo Litematic VL-50:全自动测厚仪,激光位移传感器精度0.1μm

Taylor Hobson Talysurf i120:三维表面轮廓仪,Ra测量重复性±1.2%

Instron Wilson 574:闭环控制硬度计,满足ISO 6507 Class 1级要求

KEYENCE LM-9000:激光共聚焦显微镜,1200万像素CCD解析表面缺陷

ESPEC PCT-100:高低温循环箱,温变速率5℃/min,均匀度±0.5℃

技术优势

持有CNAS 详情请咨询工程师5及CMA 2023EL123资质,检测数据国际互认

设备校准溯源至NIST标准,符合ISO/IEC 17025:2017体系要求

检测人员持有ASNT/ISO 9712三级认证,年均完成3000+组对比试验

配备21CFR Part 11合规电子记录系统,数据修改留痕率100%

参与制定GB/T 30709-2014《薄片材料厚度试验方法》行业标准

  以上是与片状塞尺测试相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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