片状塞尺测试

检测项目

厚度精度检测：测量范围0.02-10.00mm，分辨率达0.001mm，允差±0.5μm（≤1mm规格）

平行度偏差分析：全厚度段平行度公差≤0.003mm/25mm，采用三点式激光干涉法

表面粗糙度评价：Ra值控制0.1-0.8μm，按ISO 4287标准执行三维轮廓扫描

维氏硬度测试：载荷范围5-50N，硬度值HV 150-800，压痕对角线测量误差＜2%

热膨胀系数验证：温度循环-40℃~+120℃，尺寸变化率要求≤0.002%/℃

检测范围

金属材料：冷轧不锈钢带（AISI 304/316）、钛合金箔材（Gr5/Gr23）

高分子材料：聚酰亚胺薄膜（Kapton® HN系列）、PTFE层压板

精密机械组件：轴承隔离片、涡轮机密封垫片组件

电子元件封装层：IC芯片绝缘隔片、PCB板定位垫片

复合材料层压结构：碳纤维/环氧树脂预浸料叠层件

检测方法

ASTM D374-19：固体电绝缘材料厚度测量标准，接触压力限定0.2N/mm²

ISO 4593:2021：塑料薄膜厚度测定，采用非接触式涡流传感器技术

ISO 6507-1:2023：金属材料维氏硬度试验，保载时间15±1秒

ASTM E177-20：测量系统不确定度评定，包含重复性&再现性(R&R)分析

ISO 11359-2:2021：热机械分析(TMA)法测定线性热膨胀系数

检测设备

Mitutoyo Litematic VL-50：全自动测厚仪，激光位移传感器精度0.1μm

Taylor Hobson Talysurf i120：三维表面轮廓仪，Ra测量重复性±1.2%

Instron Wilson 574：闭环控制硬度计，满足ISO 6507 Class 1级要求

KEYENCE LM-9000：激光共聚焦显微镜，1200万像素CCD解析表面缺陷

ESPEC PCT-100：高低温循环箱，温变速率5℃/min，均匀度±0.5℃

技术优势

持有CNAS 详情请咨询工程师5及CMA 2023EL123资质，检测数据国际互认

设备校准溯源至NIST标准，符合ISO/IEC 17025:2017体系要求

检测人员持有ASNT/ISO 9712三级认证，年均完成3000+组对比试验

配备21CFR Part 11合规电子记录系统，数据修改留痕率100%

参与制定GB/T 30709-2014《薄片材料厚度试验方法》行业标准

以上是与"片状塞尺测试"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。