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二色性检测

  • 原创官网
  • 2025-05-10 14:39:15
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二色性检测概述:二色性检测是评估材料在不同偏振光或波长下光学性能差异的关键分析手段,广泛应用于光学薄膜、液晶显示及涂层材料等领域。本文系统阐述二色性检测的核心项目、适用材料范围、标准化方法及专用设备配置,重点解析色差角、反射率比等关键参数的测量原理与技术规范。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.主波长偏差:测量样品在可见光波段(380-780nm)的主波长偏移量(0.5nm)
2.色纯度差异:计算CIE1931色度图中坐标点与基准点的距离(Δxy≤0.002)
3.偏振相关损耗:测试正交偏振态下的透射率差值(PDL≤0.1dB)
4.双折射率梯度:测定材料厚度方向折射率变化(Δnd≤5nm)
5.相位延迟量:测量线偏振光通过样品后的相位延迟(λ/4精度1)

检测范围

1.光学薄膜:包括AR/IR截止膜、分光膜等镀膜产品
2.液晶显示材料:TFT-LCD偏光片、相位补偿膜
3.汽车涂层:金属闪光漆、珠光颜料涂层体系
4.光纤器件:保偏光纤、波分复用器光学元件
5.晶体材料:铌酸锂、蓝宝石等单轴/双轴晶体

检测方法

ASTME313-20《白色材料色差计算标准》
ISO13655:2017《印刷技术-光谱测量与色度计算》
GB/T7921-2008《均匀色空间和色差公式》
IEC61300-3-29《光纤互连器件偏振相关损耗测试》
JISK7150-4《塑料-双折射测定方法》

检测设备

1.X-RiteCi7800分光光度计:0/45几何光学结构,支持SCI/SCE测量模式
2.J.A.WoollamM-2000椭偏仪:光谱范围245-1700nm,膜厚测量精度0.1
3.Agilent8509C偏振分析仪:波长范围1260-1640nm,PDL分辨率0.001dB
4.OlympusBX53-P偏光显微镜:配备λ补偿器与Senarmont法测量模块
5.ShimadzuUV-3600iPlus分光光度计:双单色器系统,杂散光<0.00005%
6.ThorlabsPAX1000偏振测量系统:支持Mueller矩阵实时测量
7.HindsPEM-90光弹调制器:工作频率50kHz,相位延迟精度0.1
8.OceanInsightFX系列光纤光谱仪:积分时间10μs-10min可调
9.LabsphereCDS2100散射透射系统:全积分球设计直径150mm
10.HoribaJobinYvonUVISEL2相位调制椭偏仪:70入射角自动扫描

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报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与二色性检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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