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概述:纳米二氧化硅检测聚焦于亚100nm尺度二氧化硅颗粒的综合表征,核心检测对象涵盖粒径分布、比表面积及表面化学性质。关键项目包括使用动态光散射法测定流体动力学直径(参照ISO22412)、BET氮吸附法测定比表面积、X射线光电子能谱(XPS)分析表面硅氧烷/硅醇基团比例,以及电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)检测金属杂质含量(检出限≤0.1ppm)。通过透射电镜(TEM)验证初级粒子形貌与团聚状态。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
物理特性检测:
化学成分检测:
分散性能检测:
光学性能检测:
热性能检测:
表面改性检测:
生物相容性检测:
电化学性能:
机械性能:
环境行为:
1.气相法纳米二氧化硅:检测重点为原生粒径控制(7-40nm)、氯残留量及表面未修饰硅羟基密度
2.沉淀法纳米二氧化硅:侧重团聚体解聚度、钠钾杂质含量(≤0.3%)及孔径分布均匀性
3.溶胶-凝胶法制备纳米颗粒:检测缩聚程度(29SiNMR)、有机溶剂残留(GC-MS)及胶体稳定性
4.疏水改性纳米二氧化硅:重点检测烷基硅烷接枝率(TGA)、水分散性及接触角滞后效应
5.医疗用纳米二氧化硅:严格检测内毒素(≤0.25EU/mg)、无菌性及细胞凋亡率
6.涂料添加剂用纳米颗粒:检测分散体系触变性、耐候性(QUV加速老化)及雾影值
7.橡胶补强用纳米白炭黑:重点检测DBP吸收值(1.8-3.0cm³/g)、硫化特性及300%定伸应力
8.电子封装材料:检测介电损耗(≤0.005@1MHz)、α粒子发射率(≤0.001counts/cm²·hr)
9.催化载体材料:侧重检测酸性位点密度(NH₃-TPD)、孔径均一性(PSD曲线半峰宽)
10.食品级纳米二氧化硅:检测砷铅含量(≤3mg/kg)、灼烧减量(≤2.5%)及微生物限值
国际标准:
国家标准:
1.动态光散射仪:MalvernZetasizerPro(粒径范围0.3nm-10μm,角度173°)
2.比表面积分析仪:MicromeriticsASAP2460(真空度≤10μmHg,孔径分析0.35-500nm)
3.透射电子显微镜:FEITalosF200X(点分辨率0.25nm,STEM-HAADF模式)
4.X射线光电子能谱仪:ThermoScientificK-Alpha+(能量分辨率<0.5eV,Ar离子刻蚀速率0.5nm/s)
5.电感耦合等离子体质谱:PerkinElmerNexION2000(检出限0.1ppt,质量范围2-280amu)
6.同步热分析仪:NETZSCHSTA449F5(温度范围RT-1650℃,灵敏度0.1μg)
7.傅里叶红外光谱仪:BrukerVertex80v(分辨率0.1cm⁻¹,MCT检测器)
8.纳米粒度及电位分析仪:BrookhavenNanoBrook90PlusPALS(Zeta电位范围±500mV)
9.全自动物理吸附仪:QuantachromeAutosorbiQ(压力范围10⁻¹⁰-1500mmHg)
10.圆二色谱仪:JascoJ-1500(波长范围163-2500nm,光程0.01-100mm)
11.流变仪:HaakeMARS60(扭矩范围0.05μNm-200mNm,频率0.001-100Hz)
12.纳米压痕仪:KeysightG200(载荷分辨率50nN,位移分辨率0.01nm)
13.激光衍射粒度仪:SympatecHELOS(测量范围0.1-8750μm,干湿法分散)
14.紫外可见分光光度计:ShimadzuUV-2700(波长范围185-900nm,带宽0.1nm)
15.高分辨拉曼光谱仪:RenishawinVia(空间分辨率0.5μm,光谱范围
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"纳米二氧化硅检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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