纳米二氧化硅检测概述:纳米二氧化硅检测聚焦于对其关键物理化学特性的精确表征。核心检测对象为粒径分布在1-100nm范围内的无定形二氧化硅颗粒,重点涵盖粒径分布(PDI≤0.3)、比表面积(≥150m²/g)、表面羟基含量(1.5-4.5 OH/nm²)、纯度(SiO₂≥99.8%)及分散稳定性(Zeta电位绝对值≥30mV)等指标,确保材料满足特定应用的功能性及安全性要求。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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物理特性:
1. 橡胶补强剂: 沉淀法/气相法白炭黑,重点检测比表面积(160-210m²/g)及DBP吸收值(≥2.0cm³/g)
2. 涂料消光剂: 多孔型纳米二氧化硅,核心检测孔隙率(≥1.2cm³/g)及折射率(1.45±0.02)
3. 电子封装料: 高纯球形硅微粉,侧重金属杂质(Na/K≤50ppm)及α射线(≤0.01cph/cm²)
4. 药物载体: 介孔二氧化硅,重点检测孔径均一性(偏差≤±1nm)及载药量(≥300mg/g)
5. 陶瓷添加剂: 烧结助剂用纳米粉体,关键检测粒径(D50≤50nm)及烧结收缩率(≤15%)
6. 化妆品原料: 防晒剂/吸附剂,严格检测微生物(菌落总数≤100CFU/g)及重金属(As≤3ppm)
7. 催化材料: 催化剂载体,核心指标比表面积(≥300m²/g)及表面酸量(≥0.5mmol/g)
8. 油墨增稠剂: 改性疏水型,重点检测粘度增幅(≥200%)及触变指数(≥3.0)
9. 食品添加剂: 抗结剂用SiO₂,按GB 25576-2010检测可溶性盐(≤1.0%)及砷(≤3mg/kg)
10. 绝热材料: 气凝胶前驱体,关键检测孔径(≤20nm)及热导率(≤0.025W/m·K)
国际标准:
1. 激光粒度仪: Malvern Mastersizer 3000(测量范围0.01-3500μm,精度±1%)
2. 比表面孔隙仪: Micromeritics ASAP 2460(比表测试范围0.01-无上限,分辨率0.01m²/g)
3. 透射电镜: JEOL JEM-2100F(点分辨率0.19nm,放大倍率50-1,500,000×)
4. Zeta电位仪: Malvern Zetasizer Nano ZS(测量范围-200mV至+200mV,温度控制±0.1℃)
5. 热重分析仪: NETZSCH TG 209F3(温度范围RT-1000℃,称重精度0.1μg)
6. X射线衍射仪: Bruker D8 ADVANCE(角度精度0.0001°,扫描速率0.001-100°/s)
7. 电感耦合等离子体光谱仪: PerkinElmer Avio 550(检测限低至ppb级,线性范围>106)
8. 紫外可见分光光度计: Shimadzu UV-2600i(波长范围185-900nm,带宽0.1-5nm)
9. 全自动物理吸附仪: Quantachrome Autosorb-iQ(孔径分析范围3.5-5000Å,真空度10-10Torr)
10. 流变仪: HAAKE MARS 60(扭矩范围0.05μNm-200mNm,频率0.001-100Hz)
11. 动态热机械分析仪: TA Instruments DMA 850(形变分辨率0.1nm,温度范围-170-600℃)
12. 傅里叶红外光谱仪: Thermo Scientific Nicolet iS50(波数范围7800-350cm⁻¹,分辨率0.09cm⁻¹)
13. 离心沉降仪: CPS DC24000(离心加速度0-24000g,粒径范围0.005-300μm)
14. 激光共聚焦显微镜: Zeiss LSM 980(空间分辨率120nm,Z轴定位精度1nm)
15. 粉尘爆炸测试仪: KSEP-2000(温度范围20-1000℃,压力范围
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与纳米二氧化硅检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。