绿碳化硅微粉检测

检测项目

化学成分分析：

• 碳化硅含量：SiC≥98.5%（参照GB/T3045）
• 杂质元素：Fe≤0.1%,Al≤0.05%,SiO2≤0.5%
• 纯度测定：总杂质含量≤0.5%

粒度分布测试：

• 平均粒径：D50值（范围1-50μm）
• 粒度分布宽度：Span≤1.5（参照ISO13320）
• 颗粒形貌：球形度≥0.85

物理性能检测：

• 硬度：维氏硬度≥2800HV
• 密度：≥3.21g/cm³
• 流动性：流速≤35s/50g

热性能分析：

• 热膨胀系数：CTE≤4.5×10⁻⁶/K
• 导热率：≥120W/m·K
• 热稳定性：失重率≤0.5%（1000°C）

电性能测试：

• 电阻率：≥10¹²Ω·cm
• 介电常数：≤10（1MHz）
• 击穿电压：≥15kV/mm

微观结构观察：

• 晶粒尺寸：≤5μm
• 表面形貌：无团聚缺陷
• 孔隙率：≤1%

水分含量检测：

• 游离水分：≤0.1%
• 结合水：≤0.05%

杂质含量分析：

• 金属杂质：Cu≤10ppm,Ni≤5ppm
• 非金属杂质：C游离≤0.2%
• 氧含量：≤0.3%

表面特性评估：

• 比表面积：≥5m²/g（BET法）
• 表面能：≤50mJ/m²
• 润湿角：≥90°

机械强度测试：

• 抗压强度：≥150MPa
• 耐磨性：磨损量≤0.01g

检测范围

1.磨料级绿碳化硅微粉：重点检测硬度和粒度分布均匀性，确保磨削效率与使用寿命。

2.陶瓷级绿碳化硅微粉：侧重纯度和烧结性能，控制杂质促进陶瓷致密化与强度。

3.耐火材料级绿碳化硅微粉：检测热稳定性及热膨胀系数，保障高温环境下的结构完整性。

4.电子级绿碳化硅微粉：聚焦电性能与杂质ppm级控制，满足半导体基材高绝缘要求。

5.涂层材料级绿碳化硅微粉：评估表面特性与附着力，优化涂层均匀性和耐磨性。

6.复合材料级绿碳化硅微粉：检测界面结合强度与分布均匀性，增强增强相分散效果。

7.高纯绿碳化硅微粉：侧重杂质元素超低含量分析（如Fe≤0.005%），确保超高纯度应用。

8.纳米级绿碳化硅微粉：重点检测纳米粒度（D50≤100nm）及团聚程度，适用精密纳米技术。

9.烧结体原料级绿碳化硅微粉：评估烧结收缩率与密度一致性，保证成型体尺寸精度。

10.特殊应用级绿碳化硅微粉：检测环境稳定性与机械强度，适用于航空航天极端条件。

检测方法

国际标准：

• ISO13320:2020粒度分布测定-激光衍射法
• ASTME384-22材料维氏硬度测试方法
• ISO11357-3:2018塑料-差示扫描量热法（DSC）
• ASTMD150-18固体电绝缘材料AC损耗特性及介电常数测试

国家标准：

• GB/T3045-2017碳化硅化学分析方法
• GB/T19077-2016粒度分析-激光衍射法
• GB/T4334-2020金属和合金的腐蚀试验方法
• GB/T9966-2020天然石材试验方法

方法差异说明：ISO13320与GB/T19077粒度测试均基于激光衍射，但校准标准不同；ASTME384维氏硬度测试载荷范围与GB/T4340有差异；ISO11357热分析与GB方法温度程序不一致；ASTMD150电性能测试频率设置与GB标准有别。

检测设备

1.X射线荧光光谱仪：SHIMADZUEDX-720（元素分析范围Na-U，精度±0.01%）

2.激光粒度分析仪：MALVERNMastersizer3000（粒度范围0.01-3500μm，分辨率0.1%）

3.显微硬度计：MITUTOYOHM-200（载荷范围10-1000gf，精度±1%）

4.扫描电子显微镜：ZEISSEVOMA10（分辨率3nm，放大倍数10-100万倍）

5.热重分析仪：NETZSCHTG209F3（温度范围RT-1500°C，精度±0.1μg）

6.电导率仪：KEITHLEY6517B（电阻测量范围1mΩ-200TΩ，灵敏度0.1fA）

7.比表面积分析仪：MICROMERITICSASAP2020（BET方法范围0.01-1000m²/g，精度±1%）

8.水分测定仪：METTLERTOLEDOHX204（测量范围0-100%，精度±0.01%）

9.电感耦合等离子体光谱仪：PERKINELMEROptima8300（检测限0.1ppb，元素覆盖70+）

10.X射线衍射仪：BRUKERD8ADVANCE（角度范围5-90°，分辨率0.0001°）

11.密度计：ACCUPYC1340（气体置换法范围0-10g/cm³，精度±0.0001g/cm³）

12.热膨胀仪：LINSEISL75（温度范围-150-1600°C，膨胀测量精度±0.02%）

13.电阻率测试仪：AGILENT4339B（高阻测量范围10³-10¹⁶Ω，电压0-1000V）

14.光学显微镜：OLYMPUSBX53（放大倍数50-1000x，数字成像分辨率5MP）

15.超声波分散器：BRANSON5510（频率40kHz，功率

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"绿碳化硅微粉检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。