晶界迁移检测

检测项目

1.晶界迁移速率：测量单位时间位移量（μm/s），温度范围20-1500℃

2.激活能测定：通过Arrhenius方程计算能量值（单位：eV）

3.晶粒尺寸变化：统计平均晶粒尺寸偏差（0.1μm）

4.取向差角分析：EBSD测定相邻晶粒取向差角（0-62.8）

5.应变分布表征：DIC技术测量局部应变梯度（精度0.01%）

6.热稳定性评估：恒温保持实验（最长1000小时）

检测范围

1.金属结构材料：铝合金（AA6061/7075）、钛合金（Ti-6Al-4V）

2.陶瓷基材料：氧化铝（Al₂O₃）、氮化硅（Si₃N₄）

3.半导体单晶：硅片（<100>/<111>取向）、砷化镓

4.高温合金体系：镍基合金（Inconel718）、钴基合金

5.复合结构材料：碳化硅颗粒增强铝基复合材料

检测方法

1.ASTME112-13：晶粒度定量测定标准

2.ISO643:2019：钢的奥氏体晶粒度测定

3.GB/T13298-2015：金属显微组织检验方法

4.ASTME2627-13：电子背散射衍射分析方法

5.ISO12107:2012：金属材料疲劳试验统计方案

6.GB/T228.1-2021：金属材料拉伸试验方法

检测设备

1.FEINovaNanoSEM450场发射扫描电镜：分辨率0.8nm@15kV

2.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD系统：角度分辨率0.5

3.LasertecVL2000DX-SVF17SP高温共聚焦显微镜：最高温度1700℃

4.BrukerD8DiscoverX射线衍射仪：Cu靶λ=1.5406

5.ThermoScientificHeliosG4UX聚焦离子束系统：束流0.8pA-65nA

6.BrukerTIPremier纳米压痕仪：载荷分辨率50nN

7.ShimadzuAIM-9000高温激光显微镜：加热速率100℃/min

8.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：扫描范围90μm90μm

9.NETZSCHDIL402ExpedisSupreme热膨胀仪：温度精度0.1℃

10.ZEISSAxioImager2金相显微镜：物镜放大倍数50-1000

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"晶界迁移检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。