1. 元素成分分析:测定样品中C、Si、Mn等元素的含量范围(0.001%-99.9%),检出限≤10 ppm。
2. 微区元素分布成像:空间分辨率≤5 μm,支持面扫描与线扫描模式。
3. 镀层/涂层厚度测量:测量范围0.1-500 μm,精度±0.05 μm。
4. 夹杂物鉴定:识别氧化物、硫化物等非金属夹杂物(尺寸≥2 μm)。
5. 相结构表征:结合EDS实现物相鉴定(加速电压5-30 kV)。
1. 金属材料:不锈钢、铝合金、钛合金等铸件/锻件的成分偏析分析
2. 半导体器件:硅晶圆掺杂浓度分布、焊点金属间化合物(IMC)检测
3. 地质样品:岩石矿物中稀土元素含量及赋存状态研究
4. 生物医学材料:骨植入物表面羟基磷灰石涂层的元素组成测定
5. 环境颗粒物:PM2.5中重金属(Pb、Cd、As)的微区溯源分析
1. ASTM E1614-19:激光诱导击穿光谱法测定金属材料成分的标准方法
2. ISO 22309:2011:微束分析-能谱法定量分析通则
3. GB/T 20125-2006:低合金钢多元素含量的测定标准
4. GB/T 17359-2023:电子探针显微分析通用技术条件
5. ISO 15632:2021:半导体器件X射线能谱仪性能要求
1. Thermo Scientific Niton XL5:手持式LIBS分析仪(波长1064 nm)
2. Bruker M4 TORNADO Plus:微区XRF联用系统(光斑尺寸20 μm)
3. HORIBA LabRAM HR Evolution:拉曼光谱-激光显微联用系统
4. Hitachi EA1400 X-MaxN:钨灯丝电镜配套能谱仪(分辨率129 eV)
5. Shimadzu EPMA-8050G:电子探针显微分析仪(波长色散型)
6. JEOL JXA-8530F Plus:场发射电子探针(束流10-12-10-6A)
7. Oxford Instruments Ultim Max 170:大面积能谱探测器(170 mm²)
8. ZEISS Sigma 500:场发射扫描电镜联用LIBS模块
9. Agilent 7900 ICP-MS联用激光剥蚀系统(空间分辨率5 μm)
10. TESCAN TIMA-X:矿物自动分析系统(EDS+CL集成)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"激光显微光谱分析仪检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
专业分析各类金属、非金属材料的成分、结构与性能,提供全面检测报告和解决方案。包括金属材料力学性能测试、高分子材料老化试验、复合材料界面分析等。
精准检测各类化工产品的成分、纯度及物理化学性质,确保产品质量符合国家标准。服务涵盖有机溶剂分析、催化剂表征、高分子材料分子量测定等。
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凭借专业团队和先进设备,致力于为企业研发、质量控制及市场准入提供精准可靠的技术支撑,助力品质提升与合规发展。