偏光测试

偏光测试是评估材料光学性能的核心检测技术,主要针对偏振特性、透光均匀性及消光比等关键指标进行量化分析。本文依据ASTM、ISO及GB/T等标准体系,系统阐述薄膜、显示器件、光学元件等材料的检测要素,涵盖光谱透射率、相位延迟量等专业参数的测量方法,为质量控制提供科学依据。

原创阅读 402025-02-22工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

偏振度测量:检测偏振元件对非偏振光的转化效率,标准要求≥99.8% @632.8nm

透射比测试:测量平行/垂直偏振方向的光通量比,典型参数0.01%-0.5%消光比

相位延迟量测定:评估波片类元件的光程差精度,检测范围0-λ/4(λ=400-700nm)

色度坐标偏差:CIE 1931标准下Δx≤0.003,Δy≤0.005

应力双折射分析:量化材料内部残余应力,检测灵敏度达0.1nm/cm

检测范围

液晶显示材料:TFT-LCD面板的偏振膜透过率一致性检测

光学薄膜:AR膜、IR截止膜的偏振相关损耗测试

偏光眼镜:驾驶镜/太阳镜的偏振效率与轴向偏差检测

汽车防眩光膜:前挡风膜偏振保持率≥95%的验证

医用内窥镜:光学系统偏振保持特性的临床级检测

检测方法

标准类型标准号应用范围
ASTMD1003-21透明材料透光率与雾度测定
ISO13666:2019眼科光学器件偏振特性检测
GB/T25270-2010液晶显示器光学性能测试方法
IEC61300-3-32光纤连接器偏振相关损耗测试
JISZ8722:2009色度测量中的偏振控制要求

检测设备

1. 分光偏振分析系统(Shimadzu UV-3600 Plus)

配备积分球附件,支持190-2500nm波段偏振光分析,波长分辨率0.1nm

2. 激光椭偏仪(J.A. Woollam M-2000DI)

70°入射角范围,薄膜厚度测量精度±0.1nm,支持Mueller矩阵测量

3. 偏光应力仪(STRAINVIEW SC-30)

采用Senarmont补偿法,应力测量范围0-560nm,空间分辨率5μm

4. 自动旋光仪(Rudolph Research Autopol VI)

测量范围±89.9°,分辨率0.001°,符合USP<851>药典标准

5. 偏光显微镜(Olympus BX53-P)

配置补偿器组,支持λ/4、λ/30精度相位差测量,最大放大倍数1000×

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

CMA / CNAS / ISO 资质齐全,荣誉证书点击可查看大图

{{ groups[lb.g].items[lb.i].t }}({{ lb.i+1 }} / {{ groups[lb.g].items.length }})

具体资质详情请联系工程师

北京实验室 济南实验室 聊城实验室 深圳实验室

热门检测专题