表面氧化层厚度检测:分辨率0.5nm,测量范围1-500nm,适用真空度≤5×10-5 Pa
金属纯度分析:检测限0.01ppm,相对误差≤±0.3%,涵盖Li/Na/K/Rb/Cs五种元素
晶格畸变率测定:X射线衍射角精度±0.001°,晶面间距计算误差<0.5%
电化学活性测试:恒电流极化±5mA/cm²,电位扫描速率0.1-100mV/s
杂质元素分布检测:二次离子质谱空间分辨率50μm,深度剖析步长2nm
锂金属负极材料:用于高能锂电池的金属锂箔/锂带,厚度范围10-200μm
钠钾合金导热材料:核反应堆用NaK-78合金,液态温度范围-12.6~785℃
镁铝合金结构件:航空航天用Mg-Li-Al系超轻合金,密度1.35-1.65g/cm³
稀土金属催化剂:铈镧系储氢合金,比表面积200-800m²/g
铯铷化合物半导体:Cs3Sb光电阴极材料,功函数2.0-2.6eV
GB/T 4372.1-2014:金属锂化学分析方法,电感耦合等离子体质谱法测定杂质元素
ASTM B924-20:碱金属表面氧化膜厚度的氩离子溅射测定标准
ISO 18558:2015:金属材料氢化物形成倾向的电化学测试规程
GB/T 36590-2018:金属粉末振实密度测试方法,适用粒径0.1-500μm
ASTM E3061-17:锂离子电池用金属锂带晶粒尺寸测定标准
Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS:配备高盐雾化器,实现ppb级痕量元素分析
Bruker D8 ADVANCE XRD:Cu靶光源,2θ角范围5°-140°,用于晶体结构解析
PARSTAT 4000电化学工作站:最大输出电流2A,支持EIS/Tafel/Potentiostat多模式测试
Kratos AXIS Supra XPS:单色Al Kα光源,能量分辨率<0.45eV,用于表面化学态分析
FEI Helios G4 UX FIB-SEM:1nm分辨率聚焦离子束,支持三维微区成分重构
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与强负电性金属检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。