钨铜复合物检测概述:检测项目1.成分分析:采用XRF法测定钨(70-90%)与铜(10-30%)的质量百分比误差≤0.5%2.密度测试:依据阿基米德原理测量体密度≥16.5g/cm(理论密度98%以上)3.导电率检测:四探针法测定导电率≥45%IACS(国际退火铜标准)4.热膨胀系数:热机械分析仪测试20-300℃范围CTE≤710⁻⁶/K5.抗弯强度:三点弯曲试验机测定≥850MPa(试样尺寸5540mm)检测范围1.电子封装材料:用于大功率IGBT模块的WCu10-WCu30系列复合材料2.电触头材料:含铜量15-40%
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.成分分析:采用XRF法测定钨(70-90%)与铜(10-30%)的质量百分比误差≤0.5%
2.密度测试:依据阿基米德原理测量体密度≥16.5g/cm(理论密度98%以上)
3.导电率检测:四探针法测定导电率≥45%IACS(国际退火铜标准)
4.热膨胀系数:热机械分析仪测试20-300℃范围CTE≤710⁻⁶/K
5.抗弯强度:三点弯曲试验机测定≥850MPa(试样尺寸5540mm)
1.电子封装材料:用于大功率IGBT模块的WCu10-WCu30系列复合材料
2.电触头材料:含铜量15-40%的高压开关用梯度功能材料
3.热沉基板:热导率≥200W/(mK)的WCu/CuMo层状复合材料
4.航天器喷管:耐温>2000℃的WCu渗铜烧结件
5.核聚变装置部件:中子屏蔽用WCu合金(硼含量≤50ppm)
ASTME539-21《X射线荧光光谱法测定钛及钛合金中合金元素》扩展应用至W-Cu体系
ISO4499-2:2020《硬质合金显微组织的金相测定》用于孔隙度分析
GB/T5121.1-2020《铜及铜合金化学分析方法》结合ICP-OES测定杂质元素
GB/T3850-2015《致密烧结金属材料密度测定方法》控制开孔率<0.5%
ASTMB962-17《钨基高比重合金标准规范》指导力学性能测试流程
ThermoScientificARLPERFORM'X4200X射线荧光光谱仪(成分分析精度0.1%)
NETZSCHDIL402ExpedisClassic热膨胀仪(温度分辨率0.1℃)
Instron5985万能试验机(载荷范围50N-300kN)
Agilent5900ICP-OES等离子发射光谱仪(检出限达ppb级)
MitutoyoHM-200显微硬度计(载荷范围10gf-2kgf)
LecoRH-404氢测定仪(氢含量检测精度0.01ppm)
KeyenceVHX-7000数码显微镜(5000倍超景深观察)
LinseisLFA1000激光导热仪(热扩散系数测量误差<3%)
MalvernMastersizer3000激光粒度仪(粒径分布D50测量)
SartoriusCPA225D电子天平(称量精度0.01mg)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与钨铜复合物检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。