可送检的样品类型与对应检测项目

样品类型 典型应用场景 主要检测项目 常用方法 / 参考
建筑装饰花岗岩（荒料、板材、异型材） 幕墙干挂、地面铺装、台面加工、路缘石 微观形貌、矿物组成识别、晶界与解理特征、微裂纹统计、孔隙结构 GB/T 17412.1-1998 岩石分类命名；扫描电镜二次电子成像；能谱微区成分
工程岩芯与室内试件（钻孔岩芯、标准方块） 隧道、边坡、坝基岩体质量评价 断口形貌、微裂纹密度、胶结与蚀变特征、充填物分析 SY/T 5368-2016 薄片鉴定对照；电镜观察配合能谱；图像法定量
高温处理后花岗岩（热损伤试样） 地热储层、核废料处置围岩、火灾后岩体评估 原位热裂纹演化、573℃石英相变效应、晶间与穿晶裂纹区分 原位加热台电镜动态观察；GB/T 50266-2013 配套力学试验
冻融循环与干湿循环试样 寒区路基、抗冻性石材评价 水岩相互作用、黏土矿物膨胀、冻胀微裂纹发育 环境扫描电镜湿度控制观察；低真空免镀膜成像
岩相光片与薄片 矿物鉴定、蚀变分带、成因分析 背散射衬度成像、晶格取向与晶界类型、矿物定量 GB/T 17359-2023 能谱定量；EBSD 取向分析
人造岗石与石英石制品 台面与人造石材质量控制 填料分布均匀性、树脂包覆状态、孔隙与微裂纹 电镜形貌观察；能谱填料成分核查

检测项目

1. 微观形貌观察：放大倍数10×~100000×，场发射分辨率1~3nm，二次电子与背散射双模式成像，表征晶粒、晶界、解理面与微孔隙。

2. 微裂纹定量统计：裂纹开度0.05~50μm，统计视域不少于30个，输出面裂隙率、裂纹密度与走向分布，测量遵循GB/T 16594-2008通则。

3. 矿物微区成分（EDS）：点扫、线扫、面扫三模式，可定量原子序数11及以上元素，检出限约0.1%~1%，能量分辨率≤129eV（Mn Kα）。

4. 原位加热观察：室温~1000℃，控温精度±1℃，升温速率0.1~100℃/min可程控，实时记录573℃石英α-β相变诱发的裂纹演化。

5. 原位加载观察：压缩、三点弯曲、拉伸模块载荷0~10kN，位移分辨率约0.1μm，追踪裂纹萌生、扩展与贯通全过程。

6. 环境扫描（ESEM）观察：样品室压力最高约2600Pa，相对湿度10%~95%可调，非导体免镀膜观察水岩作用与黏土矿物吸水膨胀。

检测范围

1. 建筑石材：芝麻白G603、芝麻黑G654、锈石G682、福鼎黑G684、黑金沙等常见花岗岩品种。

2. 工程岩样：φ50mm/φ100mm钻孔岩芯、50mm/100mm标准立方试件、不规则岩块断口样品。

3. 热损伤岩样：200~1000℃梯度加热试样、热冲击循环试件、火灾后残留岩块。

4. 风化与冻融试样：冻融循环0~300次试样、干湿循环试样、硫酸盐侵蚀岩样。

5. 岩相分析样品：抛光光片、30μm标准薄片、氩离子抛光EBSD专用样品。

检测方法

1. GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则（微裂纹开度与晶粒尺寸测量）。

2. GB/T 27788-2020 微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则（图像定量前放大倍率校准）。

3. GB/T 17359-2023 微束分析 原子序数不小于11的元素 能谱法定量分析（矿物微区成分定量）。

4. JJF 1910-2021 扫描电子显微镜校准规范（放大倍数示值误差与图像分辨力校准）。

5. GB/T 17412.1-1998 岩石分类和命名方案 火成岩岩石分类和命名方案（花岗岩定名依据，石英含量20%~60%）。

6. SY/T 5368-2016 岩石薄片鉴定（偏光薄片对照与矿物组成定量）。

7. GB/T 50266-2013 工程岩体试验方法标准（原位观察配套宏观力学试验与热历史设计）。

检测设备

1. 场发射扫描电子显微镜（日立SU5000）：加速电压0.5~30kV，分辨率达1~3nm，二次电子与背散射探测器双配置。

2. 钨灯丝扫描电子显微镜（日立SU3500）：加速电压0.5~30kV，分辨率3~6nm，支持低真空模式观察未镀膜岩石样品。

3. 环境扫描电子显微镜（赛默飞Quanta 650）：样品室压力最高约2600Pa，配环境二次电子探测器，湿气模式下观察水岩作用。

4. 能谱仪（布鲁克QUANTAX系列）：探测器有效面积30~100mm²，能量分辨率≤129eV（Mn Kα），支持面分布成像与线扫描。

5. EBSD取向分析系统（牛津Symmetry S2）：取向测量精度优于0.5°，扫描步长0.05~2μm，可输出晶界特征分布图。

6. 原位加热台（Deben、Kammrath系列）：室温~1000℃，控温精度±1℃，升温速率0.1~100℃/min程控。

7. 原位力学加载台（Deben Microtest系列）：最大载荷10kN，配拉伸、压缩、三点弯曲模块，位移分辨率约0.1μm。

8. 离子溅射镀膜仪（Quorum Q150T系列）：金、铂靶材可选，膜厚5~20nm可调，供高真空成像样品制备。

9. 碳蒸发镀膜仪：碳膜厚度约20nm，供能谱定量与背散射成像样品制备，避免金属膜特征峰干扰。

10. 偏光显微镜（薄片对照）：放大50~1000×，透反两用，配合SY/T 5368-2016完成矿物组成对照分析。