检测项目

1.二氧化硅浓度测定：采用分光光度法或ICP-OES法测定溶液浓度范围（0.1-1000mg/L）。

2.pH值测试：通过数字pH计测量溶液酸碱度（范围2.0-12.0），精度0.01。

3.粒径分布分析：使用激光粒度仪测定纳米级颗粒的D50值（10-500nm），偏差≤5%。

4.金属杂质含量：ICP-MS法检测Al、Fe、Ca等痕量元素（检出限≤0.1ppb）。

5.稳定性验证：通过加速老化试验评估溶液在25℃/60℃下的储存周期（≥24个月）。

检测范围

1.半导体材料：硅片抛光液及CMP浆料中的二氧化硅分散体系。

2.光学玻璃：高纯度SiO₂溶胶镀膜材料。

3.陶瓷材料：精密陶瓷烧结助剂用纳米二氧化硅悬浮液。

4.药品辅料：口服固体制剂用胶态二氧化硅助流剂。

5.化工催化剂：分子筛合成用硅溶胶前驱体。

检测方法

1.ASTME2694-21：电感耦合等离子体发射光谱法测定痕量元素。

2.ISO13320:2020：激光衍射法分析颗粒粒径分布。

3.GB/T30449-2013：纳米二氧化硅pH值及电导率测试规范。

4.GB/T9724-2007：化学试剂pH值测定通用方法。

5.ISO23157:2021：气相色谱-质谱联用法测定有机杂质残留。

检测设备

1.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：多元素同步分析（波长范围165-900nm）。

2.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm。

3.ThermoScientificOrionStarA221pH计：分辨率0.001pH。

4.Agilent7900ICP-MS：检出限低至ppt级金属杂质检测。

5.ShimadzuUV-2600i分光光度计：波长精度0.1nm（190-1400nm）。

6.Metrohm930CompactICFlex离子色谱仪：阴/阳离子同步分析。

7.MettlerToledoT90滴定仪：自动终点判定（精度0.1μL）。

8.BrookhavenZetaPALS电位分析仪：Zeta电位测量范围500mV。

9.ThermoScientificHeratherm烘箱：温度均匀性1℃（RT-300℃）。

10.SartoriusCubisII微量天平：称量精度0.001mg（最大

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与二氧化硅标准溶液检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。