1.层数分析:单层/双层/多层占比(单层率≥95%),通过原子力显微镜(AFM)厚度测量及拉曼光谱2D峰半峰宽判定
2.碳含量测定:总碳含量≥99.9wt%,氧含量≤0.5wt%(X射线光电子能谱/XPS)
3.缺陷密度评估:ID/IG比值≤0.1(拉曼光谱D峰与G峰强度比)
4.比表面积测试:≥2630m/g(BET氮气吸附法)
5.电导率验证:≥10⁶S/m(四探针法测量面内导电性能)
1.CVD法制备单层石墨烯薄膜(晶圆级/柔性基底)
2.氧化还原法制备石墨烯粉末(粒径分布50nm-10μm)
3.石墨烯复合导电浆料(固含量5%-30%)
4.石墨烯增强高分子复合材料(添加量0.1%-5%)
5.石墨烯量子点溶液(粒径≤10nm)
1.ASTME1683-20:拉曼光谱法定量分析石墨烯结构缺陷
2.ISO15472:2010:XPS表面元素化学态表征
3.GB/T30544.3-2018:纳米材料术语第3部分-碳纳米材料检测规范
4.GB/T19587-2017:气体吸附BET法测定比表面积
5.ASTMF76-08(2016):半导体材料电阻率四探针测量标准
1.RenishawinViaQontor共聚焦拉曼光谱仪:532nm/633nm激光源,空间分辨率<1μm
2.ThermoScientificK-AlphaX射线光电子能谱仪:单色化AlKα射线源,能量分辨率≤0.5eV
3.FEITalosF200X场发射透射电镜:点分辨率0.16nm,配备SuperX能谱仪
4.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪:测量范围0.01-3500m/g,孔径分析精度0.35-500nm
5.Keithley2450源表四探针测试系统:电流分辨率10fA,电压灵敏度100nV
6.BrukerDimensionIcon原子力显微镜:ScanAsyst模式自动形貌扫描,Z轴分辨率0.1nm
7.PerkinElmerSTA6000同步热分析仪:TGA-DSC联用测定灰分残留量
8.HitachiSU8220冷场发射扫描电镜:二次电子分辨率0.8nm@15kV
9.MalvernZetasizerNanoZSP纳米粒度仪:动态光散射法测量量子点粒径分布
10.AgilentCary7000紫外可见近红外分光光度计:190-3300nm全波段透过率测试
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与高纯石墨烯检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。