1.纯度分析:采用HPLC测定主成分含量(≥99.5%),杂质峰面积比≤0.3%
2.晶体结构表征:XRD测试晶面间距(d值误差≤0.005),晶型一致性≥98%
3.热稳定性评估:TGA测定分解温度(起始点≥300℃),残炭率≤0.1%
4.光学性能测试:紫外-可见吸收光谱主峰位置(4752nm),荧光量子产率≥85%
5.元素杂质检测:ICP-MS测定重金属总量(As/Cd/Pb/Hg≤10ppm)
1.有机半导体材料:单晶/多晶红荧烯原料及掺杂体系
2.OLED器件:发光层材料中红荧烯载流子迁移率(≥0.1cm/Vs)
3.荧光探针:生物标记用红荧烯衍生物的激发波长(460-490nm)
4.太阳能电池材料:薄膜形态红荧烯的载流子寿命(≥10μs)
5.科研样品:纳米级红荧烯复合材料的粒径分布(D50=505nm)
1.ASTME1866-18:有机半导体材料热重分析标准规程
2.ISO20773:2019:碳基材料X射线衍射定量分析方法
3.GB/T23413-2009:纳米材料晶体结构表征技术规范
4.GB/T33322-2016:有机发光材料纯度测定通用方法
5.ISO23157:2021:半导体材料元素杂质ICP-MS测定法
1.Agilent1260InfinityII高效液相色谱仪:配备DAD检测器(190-900nm),色谱柱ZORBAXEclipsePlusC18(4.6250mm)
2.RigakuSmartLabX射线衍射仪:Cu靶Kα辐射(λ=1.5406),测角精度0.0001
3.NetzschSTA449F3同步热分析仪:温度范围RT-1600℃,升温速率0.1-50K/min
4.HoribaFluoroMax-4荧光光谱仪:激发波长范围200-1500nm,PMT探测器灵敏度<10ph/s
5.PerkinElmerNexION350DICP-MS:检出限低至ppt级,动态线性范围>9个数量级
6.MalvernZetasizerNanoZSP粒度分析仪:粒径测量范围0.3nm-10μm,Zeta电位精度0.3mV
7.BrukerVertex80v傅里叶红外光谱仪:分辨率≤0.1cm⁻,光谱范围7500-30cm⁻
8.KeysightB1500A半导体参数分析仪:电流测量精度0.5%,电压分辨率1μV
9.ShimadzuUV-3600Plus紫外可见分光光度计:波长精度0.1nm,杂散光≤0.00005%
10.JEOLJEM-ARM300F球差校正电镜:空间分辨率0.08nm,STEM模式原子级成像
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"红荧烯检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
专业分析各类金属、非金属材料的成分、结构与性能,提供全面检测报告和解决方案。包括金属材料力学性能测试、高分子材料老化试验、复合材料界面分析等。
精准检测各类化工产品的成分、纯度及物理化学性质,确保产品质量符合国家标准。服务涵盖有机溶剂分析、催化剂表征、高分子材料分子量测定等。
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凭借专业团队和先进设备,致力于为企业研发、质量控制及市场准入提供精准可靠的技术支撑,助力品质提升与合规发展。