暗视场观察检测

暗视场观察检测是一种基于光学显微技术的非破坏性分析方法,主要用于材料表面缺陷、微观结构及污染物识别。核心检测参数包括分辨率(≥0.1μm)、对比度调节范围(10-1000:1)及照明角度精度(±0.5°),适用于金属、半导体、高分子等材料的质量控制与失效分析。

原创阅读 62025-03-31工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.表面粗糙度分析:Ra值范围0.01-10μm,测量精度3%

2.微裂纹检测:裂纹长度≥5μm,宽度分辨率≤0.2μm

3.颗粒污染分析:粒径≥0.2μm,密度统计误差≤5%

4.涂层均匀性评估:厚度偏差≤5%,附着力等级A-D级判定

5.晶界结构表征:晶粒尺寸10-500μm,取向偏差角测量精度0.5

检测范围

金属材料:合金钢表面氧化层、铝合金疲劳裂纹

半导体器件:硅片划痕缺陷、GaAs晶圆位错密度

光学元件:透镜表面崩边、棱镜镀膜完整性

高分子薄膜:PET基材鱼眼缺陷、PI膜厚度均匀性

生物医学材料:钛合金骨植入物表面孔隙率

检测方法

ASTME45-18:钢中非金属夹杂物的测定方法

ISO4967:2013:金属材料定量金相学标准

GB/T10561-2005:钢中非金属夹杂物含量的测定标准

GB/T18876.2-2018:微束分析标准样品规范

ISO14695:2020:工业产品表面粗糙度测量规范

检测设备

奥林巴斯DSX1000数码显微镜:配备500万像素CMOS传感器,支持20~80入射角调节

KeyenceVHX-7000系列超景深显微镜:具备4K分辨率及多焦点合成功能

蔡司AxioImagerM2m金相显微镜:配置ECEpiplan-Apochromat物镜组(50-1000)

LeicaDM6M正置材料显微镜:集成LASX软件平台及斜照明模块

NikonEclipseLV150透反射显微镜:支持明/暗场快速切换及电动载物台控制

布鲁克ContourGT-X3白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm的3D形貌分析系统

SensofarSneox三维轮廓仪:结合共聚焦与干涉测量技术的光学系统

TESCANVEGA3扫描电镜:配备BSD探测器的高真空成像系统

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

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