检测项目

1.晶面间距测量：精度0.001（0.1-10nm量程）

2.晶格常数测定：立方/六方/四方晶系误差≤0.002

3.晶体取向偏差：角度分辨率0.005

4.衍射强度比分析：动态范围10⁶:1

5.织构系数计算：ODF分析精度0.5%

6.缺陷密度评估：位错密度≥10³cm^-2

检测范围

1.半导体单晶材料：硅(111)/(100)、砷化镓(110)等轴向晶体

2.高温合金部件：镍基单晶涡轮叶片<001>取向控制

3.压电陶瓷材料：锆钛酸铅(PZT)多晶织构分析

4.超导薄膜材料：YBCO外延层c轴取向偏差≤0.3

5.地质矿物样本：石英双晶面(1011)夹角测定

6.纳米涂层结构：TiN(200)择优取向度≥85%

检测方法

1.ASTME1225:使用四圆衍射仪测定单晶取向的标准方法

2.ISO24173:电子背散射衍射(EBSD)晶体学分析通则

3.GB/T13301:X射线衍射法测定金属材料织构系数

4.JISH7805:纳米晶体材料的劳厄斑点分布评价规程

5.DINEN13925:非破坏性X射线应力测定中的取向校正方法

6.GB/T3949:激光定位劳厄照相术的试样制备规范

检测设备

1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：配备9kW旋转阳极靶，可实现θ-2θ联动扫描

2.BrukerD8Discover四圆测角仪：角度重复性0.0001，配备Euleriancradle样品台

3.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器：分辨率0.02μm@20kV,Hough解析速度300点/秒

4.PANalyticalX'Pert3MRD系统：配置高分辨率三轴测角器，最小步长0.0001

5.JEOLJSM-IT800HL扫描电镜：搭配CL探测器实现阴极荧光定向分析

6.ProtoLXRD残余应力仪：Cr靶Kα辐射(λ=2.2897)，ψ角范围45

7.MalvernPanalyticalEmpyreanNano：小角散射模块支持10^-3-1波矢测量

8.BrukerDECTRISPilatus3R1M探测器：动态范围10⁶,帧频50Hz@全分辨率

9.HuberG670Guinier相机：CuKα1辐射(λ=1.54056)，聚焦圆半径180mm

10.ThermoFisherScios2DualBeamFIB-SEM：配备OmniProbe™纳米操纵器的原位取向标定系统

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与劳厄指数检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。