检测项目

1. 膜层厚度测量：分辨率0.1nm级，测量范围1-100nm

2. 表面覆盖率分析：精度±2%，支持动态吸附过程监测

3. 分子排列密度：采用二维晶格模型计算，误差≤5%

4. 界面接触角测定：水接触角测量范围5°-180°，温度控制±0.5℃

5. 化学组成分析：XPS元素检出限0.1at%，TOF-SIMS质量分辨率>30,000

检测范围

1. 半导体晶圆表面自组装单层膜

2. 生物传感器用蛋白质/核酸分子膜

3. 高分子聚合物LB膜（Langmuir-Blodgett）

4. 金属表面缓蚀剂单分子层

5. 光学器件抗反射有机涂层

检测方法

1. ASTM E2865-12(2020) X射线光电子能谱法表征有机单层膜

2. ISO 18115-4:2023 扫描探针显微镜测定分子膜形貌

3. GB/T 24368-2009 紫外可见光谱法测硫醇自组装膜厚度

4. ISO 19867:2019 椭圆偏振法测量纳米薄膜光学常数

5. GB/T 40007-2021 石英晶体微天平实时监测分子吸附量

检测设备

1. Bruker Dimension Icon原子力显微镜：配备ScanAsyst模式，Z轴分辨率0.05nm

2. J.A. Woollam M-2000U椭圆偏振仪：光谱范围245-1700nm，入射角15-90°可调

3. Thermo Scientific K-Alpha XPS：单色Al Kα光源，空间分辨率<7.5μm

4. KSV NIMA LB膜沉积系统：表面压力控制精度±0.1mN/m

5. Biolin Scientific QSense QCM-D：频率分辨率0.1Hz，8通道并行测试

6. Malvern Panalytical SAXSess mc²小角X射线散射仪：q范围0.006-3Å⁻¹

7. Horiba UVISEL 2相位调制椭偏仪：深紫外至近红外全波段覆盖

8. Agilent 5500 SPM系统：导电AFM与开尔文探针联用功能

9. Nanosurf Flex-Axiom扫描隧道显微镜：恒电流模式隧道电流0.1nA-100nA

10. Anton Paar Litesizer 500纳米粒度仪：动态光散射测分子流体力学直径

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与单分子膜层检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。