非金属夹杂物含量:检测A/B/C/D类夹杂物(氧化物、硫化物、硅酸盐等),检测精度±0.0005%
表面残留物浓度:涵盖有机污染物(C10-C30烃类)、无机盐沉积(Na+、K+、Cl-),检测限0.1μg/cm²
挥发性有机物残留量:检测苯系物、酯类等23种VOCs,分辨率达0.01ppm
粒径分布偏差率:分析0.1-500μm颗粒分布,D10/D50/D90参数误差≤±1.5%
离子型杂质含量:检测Li+、NH4+等8种阳离子及F-、NO3-等12种阴离子,检测下限0.05ppb
金属材料:铝合金/钛合金中的氧化物夹杂检测,符合GB/T 10561标准要求
高分子材料:工程塑料添加剂残留量测定,包括增塑剂、抗氧化剂等
电子元器件:半导体晶圆表面金属污染检测,满足EIA/JEDEC标准
化工产品:催化剂载体杂质分布分析,包含Fe、Ni等金属杂质检测
医药中间体:API原料药中遗传毒性杂质筛查,符合ICH Q3D规范
金相分析法:依据ASTM E45-18标准,采用电解萃取-图像分析法测定夹杂物
气相色谱质谱联用:ISO 16200-1:2020方法,TD-GC-MS系统检测挥发性污染物
激光粒度分析法:执行ISO 13320:2020标准,Mie散射理论计算粒径分布
电感耦合等离子体光谱:ASTM E1479-16方法,轴向观测ICP-OES检测金属杂质
离子色谱法:参照DIN EN ISO 10304-1:2009,抑制电导检测器测定阴/阳离子
金相显微镜系统:Olympus GX53,搭配Stream Essentials图像分析软件,可实现5000×超清成像
气相色谱质谱仪:Agilent 8890B/5977B,配备多模式进样器(MMI),质量范围1.6-1050amu
激光粒度分析仪:Malvern Mastersizer 3000,测量范围0.01-3500μm,重复性误差<0.5%
等离子体光谱仪:PerkinElmer Avio 550 Max,双向观测系统,检出限达ppt级
离子色谱系统:Thermo Scientific Dionex ICS-6000,电解自再生抑制技术,检测下限0.1ppb
持有CNAS(注册号详情请咨询工程师)和CMA(编号详情请咨询工程师)双重认证资质
实验室符合ISO/IEC 17025:2017体系要求,通过ILAC国际互认
配置Class 100洁净检测室,温控精度±0.5℃,湿度波动≤±3%RH
检测团队拥有15名高级工程师,平均行业经验超过8年
建立全流程质量追溯系统,原始数据保留周期≥10年
以上是与去杂质系数检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。