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三元共析体检测

  • 原创官网
  • 2025-02-21 15:35:44
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三元共析体检测概述:三元共析体检测是评估材料微观组织与性能协同作用的核心技术,主要针对相组成、元素分布及界面特性进行定量分析。本文系统阐述检测参数体系、适用材料类型及标准化方法,重点解析扫描电镜能谱联用(SEM-EDS)与X射线衍射(XRD)技术在亚微米级分辨率下的相变行为表征能力,为材料研发和质量控制提供科学依据。


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CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

相组成分析:定量测定α/β/γ三相比例(精度±0.5vol%),晶格常数偏差≤0.002nm

元素分布检测:主量元素(Fe/Cr/Ni)含量检测范围0.1%~5.0wt%,轻元素(C/N)检测限达50ppm

晶粒度测定:ASTM E112标准分级(G=4~12),晶界取向差分析精度±0.5°

界面结合强度:纳米压痕法测定相界面硬度(0.1~20GPa),弹性模量误差<3%

相变温度测定:DSC法检测共析转变温度(200-1200℃),升温速率0.1~50K/min

检测范围

合金材料:Fe-Cr-Ni系不锈钢、Ti-Al-V航空合金、Cu-Zn-Sn轴承合金

陶瓷复合材料:Al₂O₃-ZrO₂-Y₂O₃结构陶瓷、SiC-TiC-B₄C超硬材料

高温涂层:MCrAlY系热障涂层(M=Ni/Co)、MAX相防护涂层

金属基复合材料:Al-Si-Mg/SiC铸造复合材料、Cu-W-C电触头材料

功能梯度材料:W-Cu-Fe梯度装甲板、Ti-Ni-Al形状记忆合金

检测方法

SEM-EDS联用技术:依据ASTM E1508标准,配备背散射电子(BSE)成像与面分布分析功能

X射线衍射分析:执行ISO 20283规程,采用θ-2θ联动扫描(5°~120°)进行物相鉴定

电子背散射衍射(EBSD):按ASTM E2627标准,步长0.05~1μm的三维取向重构

透射电子显微镜(TEM):基于ISO 25498:2010,实现2nm分辨率的位错密度分析

热膨胀分析(DIL):遵循ASTM E831标准,检测精度±0.05μm/℃

检测设备

场发射扫描电镜:蔡司Sigma 500,配备牛津X-MaxN 150mm²能谱仪,分辨率0.8nm@15kV

X射线衍射仪:布鲁克D8 ADVANCE,Cu靶Kα辐射(λ=0.15406nm),测角仪精度±0.0001°

纳米压痕仪:安捷伦G200,最大载荷500mN,位移分辨率0.01nm

差示扫描量热仪:TA Q2000,温度重复性±0.1℃,热流灵敏度0.1μW

三维原子探针:CAMECA LEAP 5000XR,质量分辨率m/Δm>2000,探测效率≥80%

技术优势

CNAS认可实验室(注册号详情请咨询工程师),CMA资质认定(2012032412Z)

配备ISO/IEC 17025:2017认证的质量控制体系,数据溯源性达NIST标准

博士领衔的材料分析团队,累计发表SCI论文50+篇

自主研发的EBSD-TKD联用系统,空间分辨率提升至5nm

与ASTM/ISO标准委员会建立技术联动机制,参与制定GB/T 13305-2023等5项国家标准

  以上是与三元共析体检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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